ZHCAGC4 August   2026 BQ76952

 

  1.   1
  2.   摘要
  3.   商标
  4. 1引言
  5. 2BQ76952的短路恢复机制
    1. 2.1 BQ76952的短路恢复机制
    2. 2.2 BQ76952短路恢复时间
  6. 3CONFIG UPDATE + FET TEST的恢复方式介绍
    1. 3.1 CONFIG UPDATE,FET TEST的功能介绍
    2. 3.2 快速短路恢复基本思路和详细步骤
  7. 4实验环境搭建和结果
  8. 5总结
  9. 6参考文献

实验环境搭建和结果

本次测试使用的BQ76952EVM,直流负载和直流电源,具体的接线如下图所示:

 BQ76952接线图&实验环境 图 4-1 BQ76952接线图&实验环境

如 图 4-1 所示,DC Power Supply 作为电池端供电,DC Electronic Load用于电流模拟Pack端静态电流,同时在电子负载端配置一个470uF电容模拟容性负载。配置为Vin=12V,SCD Threshold=2.5A,SCD delay=50us,电子负载配置为5mA,本实验会做对芯片自恢复和使用config update两种方式的恢复延迟进行对比。

表 4-1 BQ76952 短路恢复结果对比
自恢复 快速恢复
延迟时间 1000ms 150ms
测试波形

如 表 4-1 所示,DDSG为放电管驱动信号,Pack为Pack端电压波形。在使用BQ76952短路自主恢复的情况下,其短路恢复时间固定为1秒,Pack端电压会因容性负载以及静态电流的关系无法建立,导致短路事件的误判;在使用本文所介绍的方法的情况下,其延迟时间不取决于BQ76952的自恢复时间,而取决于程序所设置的检测SCD事件的循环时间150ms,可以根据设计需求调整周期满足系统要求。

其参考伪代码如下: