通常使用频率带宽大于 LDO 带宽的频谱分析仪来测量 LDO 的噪声。与 LDO 类似，频谱分析仪具有内部噪声，称为分析仪本底噪声（灵敏度）。分析仪的本底噪声（技术上称为所显示的平均噪声水平–DANL）是分析仪数据表中有关分析仪频率带宽的关键规格参数。在进行任何噪声测量之前，测量分析仪的本底噪声并进行相应调整至关重要，如参考文献 [2] 一节所述。

要测量任何分析仪的本底噪声，只需在目标噪声测量带宽范围内，以分析仪最低分辨率带宽 (RBW) 设置进行多次平均的频率扫描即可。测得的噪声曲线（本底噪声）是分析仪可以在该带宽上解析的最低噪声。了解该噪声水平后，可以确定是否使用此类分析仪来测量 LDO 的噪声（DUT 噪声）。

为确保 LDO 工作带宽内噪声测量精度高于 95%，LDO 的噪声曲线必须比分析仪的本底噪声曲线高 10dB，如 图 1-2 所示。

图 1-2 典型 LDO 噪声与典型频谱分析仪本底噪声间的关系

通过将曲线组合为两个不相关噪声源，分析仪和 LDO 噪声之间的 10dB（或 3.16V/V）增益可实现 95%的精度。如果一个噪声源 (LDO) 比另一个噪声源（分析仪）高 3.16 (V/V)，则在产生的总噪声中有超过 95% 的噪声由更高的噪声源主导，如 方程式 1 所示：

考虑到噪声现象的随机性质，在 LDO 的任何噪声测量中，选择 95%精度是合理的。如果裕度低于 10dB，则 LDO 带宽滚降区域的测量精度将显著降低，如 图 1-2 所示。当 图 1-2 中的 LDO 噪声（红色曲线）接近频谱分析仪本底噪声（绿色曲线）时，噪声测量结果将失真，且明显受频谱分析仪噪声主导。这种平坦噪声并不是 LDO 的固有噪声，而是由 LDO 和分析仪的噪声叠加而成的，主要受分析仪的本底噪声影响。

分析仪的内部电路可能会影响测得的 DUT 噪声，但产生的噪声等于或接近噪声的绝对最小值 –174dBm/Hz。这个极低的噪声水平是热噪声水平（功率）；分析仪与 LDO (DUT) 的噪声水平将在后续章节中详细探讨。

图 1-3显示了超低噪声 LDO 的噪声曲线，其噪声水平比典型频谱分析仪的本底噪声低 10dB 以上。那么，问题是如何测量这种超低噪声 LDO？

图 1-3 LDO 的超低噪声与典型频谱分析仪本底噪声间的关系

解决方案相对简单 — 即使用一个放大器将 LDO 的噪声增益提高到比分析仪本底噪声高 10dB（或更高）的水平，因此我们可以测量 LDO 噪声。很少有频谱分析仪内置适用于这类低噪声信号的前置放大器；即便配备前置放大器，其增益通常也受限在 40dB 以下，且这些前置放大器的带宽往往从 1kHz 或更高频率开始升高。

那么当需要更高增益且测量必须从更低频率开始时该如何应对？

下一章节将探讨带宽为 10Hz–10MHz 的更高增益放大器的设计要求。