ZHCAE62 July   2024 BQ41Z50

 

  1.   1
  2.   摘要
  3.   商标
  4. 1制造测试
  5. 2校准
    1. 2.1 电芯电压校准
    2. 2.2 BAT 电压校准
    3. 2.3 PACK 电压校准
    4. 2.4 电流校准
      1. 2.4.1 CC 偏移校准
      2. 2.4.2 电路板失调校准
      3. 2.4.3 CC 增益校准
    5. 2.5 温度校准
      1. 2.5.1 内部温度传感器校准
      2. 2.5.2 TS1–TS2–TS3–TS4 校准
  6. 3参考资料

1 制造测试

为了改进制造测试流程，电量监测计器件允许通过 ManufacturerAccess() 命令开启或关闭某些功能。例如 PRE-CHG FET()、CHG FET()、DS FET()、Lifetime Data Collection()、Calibration() 等。仅启用被测功能可以避免任何功能干扰，从而简化生产中的测试流程。这些切换命令只会设置 RAM 数据，这意味着如果向电量监测计发出复位或密封命令，那么这些命令设置的条件将被清除。ManufacturingStatus() 跟踪每个功能的状态（启用或禁用）。

数据闪存 ManufacturingStatus 提供启用或禁用单个功能以进行正常操作的选项。在收到复位或密封命令时，ManufacturingStatus() 将从数据闪存 ManufacturingStatus() 重新加载。这也意味着如果对 ManufacturingStatus() 进行更新以启用或禁用某个功能，则只有在发送复位或密封命令时，电量监测计才会采用新设置。