ZHCAE62 July   2024 BQ41Z50

 

  1.   1
  2.   摘要
  3.   商标
  4. 1制造测试
  5. 2校准
    1. 2.1 电芯电压校准
    2. 2.2 BAT 电压校准
    3. 2.3 PACK 电压校准
    4. 2.4 电流校准
      1. 2.4.1 CC 偏移校准
      2. 2.4.2 电路板失调校准
      3. 2.4.3 CC 增益校准
    5. 2.5 温度校准
      1. 2.5.1 内部温度传感器校准
      2. 2.5.2 TS1–TS2–TS3–TS4 校准
  6. 3参考资料

2.4.2 电路板失调校准

注：

由于该器件硬件的改进，电路板失调校准不是必需的。只有在观察到电路板失调电流时才运行电路板失调校准程序。

  1. 确保首先执行失调校准。
  2. 施加 0mA 的已知电流，并确保没有电流流过连接在 SRP 和 SRN 引脚之间的检测电阻。
  3. 如果 ManufacturerStatus()[CAL] = 0，则向 ManufacturerAccess() 发送 0x002D 以启用 [CAL] 标志。
  4. 向 ManufacturerAccess() 发送 0xF081 以在 ManufacturerData() 上启用原始电流输出。
  5. 在读取数据之前轮询 ManufacturerData()，直到 ZZ 递增 2。
  6. 从 ManufacturerData() 获取电流的 ADC 转换读数：
    • ManufacturerData() 的 ADCCC = AAaa

      ADCCC 是否小于 0x8000？如果是，则使用 ADCCC；否则 ADCCC = –(0xFFFF – AAaa + 0x0001)。

  7. 取多个读数的平均值以实现更高的精度。轮询 ManufacturerData()，直到 ZZ 递增以指示更新的值可用：
    • ADCCC = [ADCCC(reading n) + … + ADCCC(reading 1)]/n
  8. 从数据闪存中读取库伦计数器失调取样数。
  9. 计算失调值：
    • Board offset = (ADCCC – CC Offset) × Coulomb Counter Offset Samples
  10. 将新的电路板失调 值写入数据闪存。
  11. 重新检查电流读数。如果读数不准确，则重复执行步骤 1 至 10。
  12. 如果所有校准都已完成，则向 ManufacturerAccess() 发送 0x002D 以清除 [CAL] 标志。