ZHCAE62 July   2024 BQ41Z50

 

  1.   1
  2.   摘要
  3.   商标
  4. 1制造测试
  5. 2校准
    1. 2.1 电芯电压校准
    2. 2.2 BAT 电压校准
    3. 2.3 PACK 电压校准
    4. 2.4 电流校准
      1. 2.4.1 CC 偏移校准
      2. 2.4.2 电路板失调校准
      3. 2.4.3 CC 增益校准
    5. 2.5 温度校准
      1. 2.5.1 内部温度传感器校准
      2. 2.5.2 TS1–TS2–TS3–TS4 校准
  6. 3参考资料

2.4.3 CC 增益校准

  1. 施加已知电流（通常为 1A 至 2A），并确保 ICC 流过连接在 SRP 和 SRN 引脚之间的检测电阻。
  2. 如果 ManufacturerStatus()[CAL] = 0，则向 ManufacturerAccess() 发送 0x002D 以启用 [CAL] 标志。
  3. 向 ManufacturerAccess() 发送 0xF081 以在 ManufacturerData() 上启用原始 CC 输出。
  4. 在读取数据之前轮询 ManufacturerData()，直到 ZZ 递增 2。
  5. 从 ManufacturerData() 获取电流的 ADC 转换读数：
    • ManufacturerData() 的 ADCCC = AAaa

      ADCCC 是否小于 0x8000？如果是，则使用 ADCCC；否则 ADCCC = –(0xFFFF – AAaa + 0x0001)。

  6. 取多个读数的平均值以实现更高的精度。轮询 ManufacturerData()，直到 ZZ 递增以指示更新的值可用：
    • ADCCC = [ADCCC(reading n) + … + ADCCC(reading 1)]/n
  7. 从数据闪存中读取库伦计数器失调取样数。
  8. 计算增益值：
    方程式 4. CC Gain = IccADCcc-Board Offset + CC OffsetCoulomb Counter Offset Samples×216
  9. 将新的 CC Gain 值写入数据闪存。
  10. 重新检查电流读数。如果读数不准确，则重复执行步骤 1 至 9。
  11. 如果所有校准都已完成，则向 ManufacturerAccess() 发送 0x002D 以清除 [CAL] 标志。
注：

BQ41xxx 产品系列中不再使用容量增益，不得使用或修改容量增益。