1 采集数据

若要采集创建多项式所需的数据，请在测试板上安装所需器件。测试板可以是 EVM 或任何 UUT（待测器件）板。需要使用数据记录法采集每个优选的特定阶跃处的 ADC 电压。以 –40°C 至 125°C 的温度范围为例，将 UUT 置于能从 –40°C 快速升温至 125°C 的温度室中。在变化过程中，温度始终沿选定方向慢速变化。必须使用斜率对温度变化过程进行编程。温度斜率必须为 2-3min/℃，或全程耗时约 330 分钟。在温度室中，必须留出足够的时间以使整个电路板在给定温度下达到饱和。小型电路板能够迅速饱和，且更快速地达到某一温度，因此可快速完成测试。如果采集数据时的阶跃为 1°C，则必须每隔几秒就采集一次温度，这样才能使基准温度与该温度下的 UUT ADC 电压对齐。这种情况下通常需要使用高端的温度室控制器。

简单的方法是将温度室设置为所需温度，并留出时间让 UUT 达到设置温度或使 UUT 达到饱和，然后记录该温度下的 ADC 电压。为下一数据点设置温度并重复该过程，直到完成整个数据点范围的采集。NTC 的标准阶跃为 1℃，共 165 阶。但是，在整个温度范围内，TI TMP6 器件都具有高线性度，因此，5°C 的阶跃非常适合这些器件。以 5°C 为阶跃，从 –40°C、–35°C、–30°C，一直到 115°C、120°C 和 125°C 采集 33 个数据点。在 Microsoft Excel 数据表中按顺序对齐电压与温度，如 图 1-1 所示。左侧为电压，右侧为温度。在该过程后期，这种设置方式的重要性更加凸显。

图 1-1 Microsoft® Excel® 中采集的数据