KOKT183 November 2025 INA600
7 테스트 설정 및 비교
게인과 오프셋 오류를 전체 온도에 걸친 각 회로의 상대 성능 측정 값으로 사용했습니다. 각 장치의 경우 정밀 소스 측정 장치를 DA의 두 입력 핀에 연결하고 보정된 8.5자리 멀티미터를 사용하여 오프셋 전압의 변화를 측정했습니다. 정확한 장치 성능을 나타내기 위해 모든 테스트를 5회 평균 스윕으로 반복했습니다. 각 장치는 ±18V의 분할 공급 구성에서 공통 모드 전압을 -35V에서 35V로 스윕하도록 구성했습니다. 과열 테스트는 오븐을 이용해 수행했으며, 테스트 기판 전체에 균일한 온도를 유지하기 위해 충분한 담금 시간을 뒀습니다.
공통 모드 전압을 중간 값으로 유지하면서 장치 입력에 차동 전압을 강제하면 게인 오류와 게인 오류 드리프트를 모두 테스트할 수 있습니다. 각 장치를 해당 입력 범위로 스윕하면 출력이 -10V~+10V의 범위까지 강제되므로 해당 기울기를 이상적인 기울기와 비교하고 게인 오류 비율을 백분율로 평가할 수 있습니다.
표 1은 개별 DA와 두 가지 집적 DA의 CMRR 성능과 오프셋을 다양한 작동 온도에서 비교한 것입니다.
| 개별 DA | INA600 | INA597 | ||||
| 온도(°C) | CMRR(dB) | 오프셋(µV) | CMRR(dB) | 오프셋(µV) | CMRR(dB) | 오프셋(µV) |
| 125 | 73.06 | -237.88 | 98.33 | 801.82 | 102.66 | -26.12 |
| 85 | 71.89 | -285.95 | 100.12 | 661.56 | 103.70 | -10.22 |
| 25 | 70.35 | -221.42 | 101.63 | 582.19 | 100.33 | -3.24 |
| -40 | 73.26 | -206.95 | 106.82 | 500.60 | 105.97 | 13.4 |
표 2는 동일한 개별 DA와 집적 DA의 게인 오류 및 드리프트 성능을 다양한 작동 온도에서 비교한 것입니다.
| 개별 DA | INA600 | INA597 | ||||
| 온도(°C) | 게인 오류(%) | 게인 오류 드리프트 | 게인 오류(%) | 게인 오류 드리프트 | 게인 오류(%) | 게인 오류 드리프트 |
| 125 | 0.14806 | -237.88 | 98.33 | 801.82 | 102.66 | -26.12 |
| 85 | 71.89 | -285.95 | 100.12 | 661.56 | 103.70 | -10.22 |
| 25 | 70.35 | -221.42 | 101.63 | 582.19 | 100.33 | -3.24 |
| -40 | 73.26 | -206.95 | 106.82 | 500.60 | 105.97 | 13.4 |
예상대로, 집적 DA는 높은 CMRR, 낮은 게인 오류 및 낮은 게인 오류 드리프트를 달성하는 데 개별 DA에 비해 뛰어난 성능을 보였습니다. 개별 DA의 오프셋 전압이 집적 DA 중 하나보다 우수했지만, 이는 소프트웨어 보정을 통해 보완할 수 있습니다.
그림 5는 세 가지 DA 각각의 간략한 레이아웃과 각 솔루션의 크기를 비교한 것입니다. 비교를 위해 가장 작은 장치 패키지와 함께 0402 패키지의 저항 및 커패시터를 사용했습니다.
그림 5 크기 비교