ZHCSIE2M June   2008  – June 2018 TPS735

PRODUCTION DATA.  

  1. 特性
  2. 应用
  3. 说明
    1.     典型应用
  4. 修订历史记录
    1.     Pin Configuration and Functions
      1.      Pin Functions
  5. Specifications
    1. 5.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 5.2 ESD Ratings
    3. 5.3 Recommended Operating Conditions
    4. 5.4 Thermal Information
    5. 5.5 Electrical Characteristics
    6. 5.6 Typical Characteristics
  6. Detailed Description
    1. 6.1 Overview
    2. 6.2 Functional Block Diagrams
    3. 6.3 Feature Description
      1. 6.3.1 Internal Current Limit
      2. 6.3.2 Shutdown
      3. 6.3.3 Dropout Voltage
      4. 6.3.4 Start-Up and Noise Reduction Capacitor
      5. 6.3.5 Transient Response
      6. 6.3.6 Undervoltage Lockout
      7. 6.3.7 Minimum Load
      8. 6.3.8 Thermal Protection
    4. 6.4 Device Functional Modes
      1. 6.4.1 Normal Operation
      2. 6.4.2 Dropout Operation
      3. 6.4.3 Disabled
  7. Application and Implementation
    1. 7.1 Application Information
    2. 7.2 Typical Applications
      1. 7.2.1 Design Requirements
        1. 7.2.1.1 Input and Output Capacitor Requirements
        2. 7.2.1.2 Feed-Forward Capacitor Requirements
      2. 7.2.2 Detailed Design Procedure
        1. 7.2.2.1 Output Noise
      3. 7.2.3 Application Curves
  8. Power Supply Recommendations
  9. Layout
    1. 9.1 Layout Guidelines
      1. 9.1.1 Board Layout Recommendations to Improve PSRR and Noise Performance
    2. 9.2 Layout Example
    3. 9.3 Power Dissipation
    4. 9.4 Estimating Junction Temperature
    5. 9.5 Package Mounting
  10. 10器件和文档支持
    1. 10.1 器件支持
      1. 10.1.1 开发支持
        1. 10.1.1.1 评估模块
      2. 10.1.2 器件命名规则
    2. 10.2 文档支持
      1. 10.2.1 相关文档
    3. 10.3 商标
    4. 10.4 静电放电警告
    5. 10.5 术语表
  11. 11机械、封装和可订购信息

封装选项

机械数据 (封装 | 引脚)
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息

静电放电警告

esds-image

ESD 可能会损坏该集成电路。德州仪器 (TI) 建议通过适当的预防措施处理所有集成电路。如果不遵守正确的处理措施和安装程序 , 可能会损坏集成电路。

ESD 的损坏小至导致微小的性能降级 , 大至整个器件故障。 精密的集成电路可能更容易受到损坏 , 这是因为非常细微的参数更改都可能会导致器件与其发布的规格不相符。