在推荐的电源电压和自然通风条件下的工作温度范围内（除非另有说明），所有典型值均在温度为 25°C 时测得，并且所有线性参数均使用 12 位分辨率模式测得（除非另有说明）(1)
| 参数 |
测试条件 |
最小值 |
典型值 |
最大值 |
单位 |
| EI |
积分线性误差 (INL) |
外部基准(2) |
-2 |
|
2 |
LSB |
| ED |
微分线性误差 (DNL)
保证无丢码 |
外部基准(2) |
-1 |
|
1 |
LSB |
| EO |
偏移误差 |
内部或外部基准 (2) (3) |
-5 |
|
5 |
mV |
| EG |
增益误差 |
外部基准(2) |
-4 |
|
4 |
LSB |
(1) 总体未调整误差 (TUE) 可以通过以下公式使用 EI、EO 和 EG 来计算得出：TUE = √( EI2 + |EO|2 + EG2 )
注意：您必须将所有误差转换为相同的单位，通常为 LSB，以上公式才能进行准确计算
(2) 所有外部基准规格都是在 VR+ = VREF+ = VDD、VR- = VSS = 0V 且 VREF+ 引脚上有外部 1μF 电容的条件下测得。
(3) 请注意，为了使用内部基准 VREF 实现该偏移误差，需要将 MEMCTL 寄存器中的 VRSEL 位设置为外部基准模式。这样会将 REFN 设置为 VREF- 并将 REFP 设置为 VREF+。在该配置中，VREF- 和 VREF+ 引脚上不能进行外部连接。