ZHCSND8
april 2021
LM117QML-SP
PRODUCTION DATA
1
特性
2
应用
3
说明
4
Revision History
5
Device Comparison Table
6
Pin Configurations and Functions
7
Specifications
7.1
Absolute Maximum Ratings
7.2
ESD Ratings
7.3
Recommended Operating Conditions
7.4
Thermal Information
7.5
Electrical Characteristics: 0.5–A IOUT Devices (LM117H, LM117GW)
7.6
Parameter Drift: 0.5–A IOUT Devices (LM117H, LM117GW)
7.7
Electrical Characteristics: 1.5–A IOUT Devices (LM117K)
7.8
Parameter Drift: 1.5–A IOUT Devices (LM117K)
7.9
Quality Conformance Inspection
7.10
Typical Characteristics
8
Detailed Description
8.1
Overview
8.2
Functional Block Diagram
8.3
Setting Output Voltage
8.4
External Capacitors
8.5
Load Regulation
8.6
Protection Diodes
9
Application and Implementation
9.1
Typical Applications
10
Power Supply Recommendations
11
Layout
11.1
Layout Guidelines
12
Device and Documentation Support
12.1
Device Support
12.1.1
第三方产品免责声明
12.2
Documentation Support
12.2.1
Related Documentation
12.3
接收文档更新通知
12.4
支持资源
12.5
Trademarks
12.6
静电放电警告
12.7
术语表
封装选项
机械数据 (封装 | 引脚)
K|2
MMBF001
Y|0
NDT|3
MMSF002
NAC|16
MCLG025B
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息
zhcsnd8_oa
12.6
静电放电警告
静电放电 (ESD) 会损坏这个集成电路。德州仪器 (TI) 建议通过适当的预防措施处理所有集成电路。如果不遵守正确的处理和安装程序,可能会损坏集成电路。
ESD 的损坏小至导致微小的性能降级,大至整个器件故障。精密的集成电路可能更容易受到损坏,这是因为非常细微的参数更改都可能会导致器件与其发布的规格不相符。