ZHCSIH4C June 2018 – June 2025 BQ40Z80
PRODUCTION DATA
为给定应用选择 N 沟道充电和放电 FET。对于 7 节串联电芯应用,充电 FET额定电压必须高于最大电压,因此使用 TI CSD18504Q5A。TI CSD18504Q5A 是一款 50A、 40V 器件,在栅极驱动电压为 10V 时具有 5.3mΩ 的 Rds(on)。放电 FET 可承受更高电压;使用 TI CSD18540Q5B。TI CSD18540Q5B 是一款 100A、 60V 器件,在栅极驱动电压为 10V 时具有 1.8mΩ 的 Rds(on)。
如果使用预充电 FET,则需要计算 R2,以将预充电电流限制为所需的速率。请务必考虑串联电阻的功率损耗。预充电电流限制为 (VCHARGER – VBAT)/R2,最大功率耗散为 (VCHARGER – VBAT)2/R2。
所有保护 FET 的栅极均由栅极和源极之间的高阻值电阻拉至源极,以确保在栅极驱动开路时将 FET 关断。
电容器 C1 和 C2 有助于在 ESD 事件期间保护 FET。使用两个器件可实现在其中一个器件短路时正常运行。设计电容器引线的覆铜迹线电感时应尽可能短而宽,以实现良好的 ESD 保护。保证 C1 和 C2 的额定电压足以在其中一个电容器短路时抑制施加的电压。