对信号进行过采样,以及使用 MSPM0 的集成硬件均值计算功能来提高 ADC 的标称分辨率,都会对有效分辨率产生很大的影响。将 12 位模式下的独立 ADC 与使用 64 次过采样的 ADC 进行比较时,标称和有效分辨率结果会增加,如表 4-1 所示。表 4-1 中的测量使用 2.5V 的内部基准和接近满量程的输入。值得注意的是,在这两种情况下,标称分辨率和有效分辨率之间都存在显著偏差。但很明显,过采样将有效分辨率提高了近 3 位,这是标称分辨率增加时的预期结果。
表 4-1 过采样对有效分辨率的影响
ADC 模式 |
标称分辨率 |
有效分辨率 |
标准,无过采样 |
12 位 |
8.39 位 |
64 次过采样 |
15 位 |
11.22 位 |