数字 X 射线 AFE

适用于数字 X 射线系统的多通道、高度集成的读取 IC (ROIC)

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用于平板 X 射线检测器 (FPD)、电荷量检测器和电容测量系统的高通道数模拟前端。完整的信号链(包括多达 256 个积分器、可编程增益放大器、相关双采样器和高速 ADC)集成在薄膜覆晶封装中并以该形式提供。该产品系列在电荷量范围和扫描时间方面提供了很大的灵活性,允许用户在静态和动态应用中权衡功耗与噪声。