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TLC372

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双路通用 LinCMOS™ 差分比较器

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产品详情

Number of channels 2 Output type Open-collector, Open-drain Propagation delay time (µs) 0.2 Vs (max) (V) 16 Vs (min) (V) 3 Rating Catalog Iq per channel (typ) (mA) 0.075 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 5 Rail-to-rail In to V- Operating temperature range (°C) -55 to 125 Input bias current (±) (max) (nA) 0.03 VICR (max) (V) 15 VICR (min) (V) 0
Number of channels 2 Output type Open-collector, Open-drain Propagation delay time (µs) 0.2 Vs (max) (V) 16 Vs (min) (V) 3 Rating Catalog Iq per channel (typ) (mA) 0.075 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 5 Rail-to-rail In to V- Operating temperature range (°C) -55 to 125 Input bias current (±) (max) (nA) 0.03 VICR (max) (V) 15 VICR (min) (V) 0
SOIC (D) 8 29.4 mm² (4.9 mm × 6 mm) TSSOP (PW) 8 19.2 mm² (3 mm × 6.4 mm) SOP (PS) 8 48.36 mm² (6.2 mm × 7.8 mm) PDIP (P) 8 92.5083 mm² (9.81 mm × 9.43 mm)
  • 单电源或双电源运行
  • 宽电源电压范围：3V 至 16V
  • 5V 时具有 150µA（典型值）的低电源电流损耗
  • 快速响应时间：TTL 电平输入阶跃的典型值为 200ns
  • 内置 ESD 保护
  • 高输入阻抗：典型值为 1012Ω
  • 极低输入偏置电流：5pA（典型值）
  • 超稳定的低输入偏移电压
  • 共模输入电压范围包括接地
  • 输出与 TTL、MOS 和 CMOS 兼容
  • 引脚与 LM393 兼容
  • 单电源或双电源运行
  • 宽电源电压范围：3V 至 16V
  • 5V 时具有 150µA（典型值）的低电源电流损耗
  • 快速响应时间：TTL 电平输入阶跃的典型值为 200ns
  • 内置 ESD 保护
  • 高输入阻抗：典型值为 1012Ω
  • 极低输入偏置电流：5pA（典型值）
  • 超稳定的低输入偏移电压
  • 共模输入电压范围包括接地
  • 输出与 TTL、MOS 和 CMOS 兼容
  • 引脚与 LM393 兼容
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* 数据表 TLC372 双通道差分比较器 数据表 (Rev. F) PDF | HTML 英语版 (Rev.F) PDF | HTML 2025-8-19
电子书 The Signal e-book: 有关运算放大器设计主题的博客文章汇编 PDF | HTML 英语版 PDF | HTML 2018-1-31

设计与开发

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评估板

AMP-PDK-EVM — 放大器高性能开发套件评估模块

放大器高性能开发套件 (PDK) 是一款用于测试常见运算放大器参数的评估模块 (EVM) 套件，与大多数运算放大器和比较器均兼容。该 EVM 套件提供了一个主板，主板上具有多个插槽式子卡选项以满足封装需求，使工程师能够快速评估和验证器件性能。

AMP-PDK-EVM 套件支持五种常用的业界通用封装，包括：

  • D（SOIC-8 和 SOIC-14）
  • PW (TSSOP-14)
  • DGK (VSSOP-8)
  • DBV（SOT23-5 和 SOT23-6）
  • DCK（SC70-5 和 SC70-6）
用户指南: PDF | HTML
支持的产品和硬件
仿真模型

TLC372 PSpice Model

SLCJ027.ZIP (0 KB) - PSpice 模型
支持的产品和硬件
参考设计

TIDA-00201 — 使用磁通门传感器进行电流和电压测量的差分信号调节电路

该设计为集成在微控制器中的差分模数转换器 ADC 提供了一种 4 通道信号调理解决方案，以便使用磁通门传感器测量电机电流。此外，还提供了一种采用外部差分 SAR ADC 的备用测量电路，以及用于高速过流和接地故障检测的电路。适当的差分信号调节提高了电机驱动中关键电路测量的防噪性能。此参考设计可有助于增加模数转换的有效分辨率，从而提高电机驱动效率。

支持的产品和硬件
参考设计

TIDA-00208 — 使用磁通门传感器，对电流和电压进行测量的单端信号调节电路

该设计为集成在微控制器中的单端 SAR ADC 提供了一种 4 通道信号调节解决方案，用于通过磁通门传感器测量电机电流。此外，还提供了一种采用外部 SAR ADC 的备用测量电路以及用于高速过流和接地故障检测的电路。适当的信号调节提高了电机驱动中关键电流测量的防噪性能。此参考设计可有助于增加模数转换的有效分辨率，从而提高电机驱动效率。

支持的产品和硬件
参考设计

TIDA-00366 — 具有电流、电压和温度保护功能的增强型隔离式三相逆变器参考设计

此参考设计提供了额定功率最高 10kW 的三相逆变器，该逆变器采用增强型隔离式栅极驱动器 UCC21530、增强型隔离式放大器 AMC1301 和 AMC1311 以及 MCU TMS320F28027 设计而成。通过使用 AMC1301 测量与 MCU 内部 ADC 连接的电机电流，并为 IGBT 栅极驱动器使用自举电源，可以降低系统成本。该逆变器根据设计具有针对过载、短路、接地故障、直流母线欠压/过压和 IGBT 模块过温的保护功能。

支持的产品和硬件
参考设计

TIDA-00439 — 用于 100/110Vac 电源供电型逆变器的基于分流器的接地故障保护参考设计

该参考设计用于检测基于逆变器的驱动器是否发生接地故障。使用分流电阻器在直流正极和直流负极总线上测量逆变器电流。共模电压范围为 +275V 的 INA149 电流检测放大器用于测量直流正极总线上的电流。使用精密运算放大器检测直流负极总线上的电流。使用高速比较器将两个测量电流之间的差值与固定阈值进行比较，以确定是否发生接地故障。

支持的产品和硬件
参考设计

TIDA-00442 — 用于 220Vac 电源供电型逆变器的基于分流器的接地故障保护参考设计

该参考设计用于检测基于逆变器的驱动器是否发生接地故障。使用分流电阻器在直流正极和直流负极总线上测量逆变器电流。使用由低侧开关降压转换器供电的 INA170 测量直流正极总线上的电流。使用精密运算放大器检测直流负极总线上的电流。使用高速比较器将两个测量电流之间的差值与固定阈值进行比较，以确定是否发生接地故障。

支持的产品和硬件
参考设计

TIDA-01540 — 采用具有内置死区时间插入功能的栅极驱动器的三相逆变器参考设计

TIDA-01540 参考设计可为增强型隔离式 10kW 三相逆变器降低系统成本并支持紧凑型设计。通过在单个封装和自举配置中使用双栅极驱动器来为栅极驱动电源生成浮动电压，可实现较低的系统成本和紧凑的外形尺寸。双栅极驱动器 UCC21520 具有可通过电阻器选项进行配置的内置死区时间插入功能。由于输入 PWM 信号的重叠，这种独特的死区时间插入功能可为三相逆变器提供击穿保护。此设计通过防止过载、短路、接地故障、直流母线欠压和过压以及 IGBT 模块硬件过热问题来提高系统的可靠性。
支持的产品和硬件
参考设计

TIDA-01541 — 用于三相逆变器的高带宽相电流和 DC-Link 电压检测参考设计

TIDA-01541 参考设计可降低系统成本，为三相逆变器的隔离相电流和直流链路电压测量提供紧凑设计，同时实现高带宽和传感精度。隔离式放大器的输出端通过差分到单端电路连接到 MCU 的内部 ADC。隔离式放大器的使用允许在 MCU 内使用 SAR ADC，从而在不牺牲电流检测性能的情况下降低系统成本。8 引脚封装减小电路板尺寸。隔离式放大器的高带宽能够在 3.5µs 内实现 IGBT 保护，高性能指标支持高精度电流电压测量。直流链路电压测量采用高输入阻抗设计，避免高压分压网络的源阻抗影响，提升测量精度。
支持的产品和硬件
封装 引脚 CAD 符号、封装和 3D 模型
SOIC (D) 8 Ultra Librarian
TSSOP (PW) 8 Ultra Librarian
SOP (PS) 8 Ultra Librarian
PDIP (P) 8 Ultra Librarian
适用于评估类项目的 TI 标准条款与条件。

订购和质量

推荐产品可能包含与 TI 此产品相关的参数、评估模块或参考设计。

支持和培训

可获得 TI 工程师技术支持的 TI E2E™ 论坛

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