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Number of channels 2 Vn at 1 kHz (nV√Hz) 0.9 Breakdown voltage (V) 40 VDS (V) 40 VGS (V) -40 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 125
Number of channels 2 Vn at 1 kHz (nV√Hz) 0.9 Breakdown voltage (V) 40 VDS (V) 40 VGS (V) -40 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 125
WSON (DSG) 8 4 mm² (2 mm × 2 mm) SOIC (D) 8 29.4 mm² (4.9 mm × 6 mm)
  • 超低噪声:
    • 电压噪声:
      • 1 kHz 时为 0.9 nV/√ Hz,I DS = 5 mA
      • 1 kHz 时为 1.1 nV/√ Hz,I DS = 2mA
    • 电流噪声:1 kHz 时为 1.6 fA/√ Hz
  • 低 V GS 失配:4mV(最大值)
  • 低栅极电流:10 pA(最大值)
  • 低输入电容:V DS = 5V 时为 13 pF

  • 高栅漏电压和栅源击穿电压:-40V

  • 高跨导:30 mS

  • 封装:SOIC,2mm x 2mm WSON

  • 超低噪声:
    • 电压噪声:
      • 1 kHz 时为 0.9 nV/√ Hz,I DS = 5 mA
      • 1 kHz 时为 1.1 nV/√ Hz,I DS = 2mA
    • 电流噪声:1 kHz 时为 1.6 fA/√ Hz
  • 低 V GS 失配:4mV(最大值)
  • 低栅极电流:10 pA(最大值)
  • 低输入电容:V DS = 5V 时为 13 pF

  • 高栅漏电压和栅源击穿电压:-40V

  • 高跨导:30 mS

  • 封装:SOIC,2mm x 2mm WSON

JFE2140 是使用德州仪器 (TI) 现代高性能模拟双极工艺构建的 Burr-Brown™ 音频、匹配对分立式 JFET。JFE2140 具有以前较旧的分立式 JFET 技术所不具备的性能。JFE2140 在所有电流范围内均提供出色的噪声性能,静态电流可由用户设置,范围为 50 µA 至 20 mA。当偏置电流为 5 mA 时,该器件会产生 0.9 nV/√ Hz 的输入参考噪声,从而以极高的输入阻抗 (>1TΩ) 提供超低噪声性能。此外,按照 ±4mV 测试 JFET 之间的匹配,可为差分对配置提供低失调电压和高 CMRR 性能。JFE2140 还具有连接到独立钳位节点的集成二极管,无需添加高泄漏、非线性外部二极管即可提供保护。

JFE2140 可承受 40V 的高漏源电压,以及低至 –40V 的栅源电压和栅漏电压。该器件额定工作温度范围为 –40°C 至 +125°C。

JFE2140 是使用德州仪器 (TI) 现代高性能模拟双极工艺构建的 Burr-Brown™ 音频、匹配对分立式 JFET。JFE2140 具有以前较旧的分立式 JFET 技术所不具备的性能。JFE2140 在所有电流范围内均提供出色的噪声性能,静态电流可由用户设置,范围为 50 µA 至 20 mA。当偏置电流为 5 mA 时,该器件会产生 0.9 nV/√ Hz 的输入参考噪声,从而以极高的输入阻抗 (>1TΩ) 提供超低噪声性能。此外,按照 ±4mV 测试 JFET 之间的匹配,可为差分对配置提供低失调电压和高 CMRR 性能。JFE2140 还具有连接到独立钳位节点的集成二极管,无需添加高泄漏、非线性外部二极管即可提供保护。

JFE2140 可承受 40V 的高漏源电压,以及低至 –40V 的栅源电压和栅漏电压。该器件额定工作温度范围为 –40°C 至 +125°C。

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* 数据表 JFE2140 超低噪声、匹配低栅电流双离散音频 N 通道 JFET 数据表 (Rev. B) PDF | HTML 英语版 (Rev.B) PDF | HTML 2023-9-14
应用简报 Ultra-Low-Noise JFET Preamplifier Design for High Impedance Sensors. PDF | HTML 英语版 PDF | HTML 2024-5-17
应用手册 JFE2140 超低噪声前置放大器 PDF | HTML 英语版 PDF | HTML 2023-3-13
证书 JFE2140EVM EU RoHS Declaration of Conformity (DoC) 2022-9-7

设计与开发

如需其他信息或资源,请点击以下任一标题进入详情页面查看(如有)。

评估板

DIP-ADAPTER-EVM — DIP 适配器评估模块

借助 DIP-Adapter-EVM 加快运算放大器的原型设计和测试,该 EVM 有助于快速轻松地连接小型表面贴装 IC 并且价格低廉。您可以使用随附的 Samtec 端子板连接任何受支持的运算放大器,或者将这些端子板直接连接至现有电路。

DIP-Adapter-EVM 套件支持六种常用的业界通用封装,包括:

  • D 和 U (SOIC-8)
  • PW (TSSOP-8)
  • DGK(MSOP-8、VSSOP-8)
  • DBV(SOT23-6、SOT23-5 和 SOT23-3)
  • DCK(SC70-6 和 SC70-5)
  • DRL (SOT563-6)
支持的产品和硬件
有库存
限制:
??asset.out-of-stock-ti_zh_CN??
无货
评估板

JFE2140EVM — 适用于 JFE2140 双通道、超低噪声、低栅极电流、音频、N 沟道 JFET 的评估模块

JFE2140 评估模块 (EVM) 可以对 JFE2140 的基本功能进行评估。该 EVM 采用闭环前置放大器配置,由 ±5V 双电源供电,提供 60dB 增益。用户可以对各种电路配置进行修改。

用户指南: PDF | HTML
支持的产品和硬件
有库存
限制:
??asset.out-of-stock-ti_zh_CN??
无货
仿真模型

JFEx140 TINA-TI Reference Design

SLPM356 (137 KB) - TINA-TI 参考设计
支持的产品和硬件
仿真模型

JFEx140 PSpice Model

SLPM355.ZIP (53 KB) - PSpice 模型
支持的产品和硬件
仿真模型

JFEx140 TINA-TI Spice Model

SLPM357.ZIP (2 KB) - TINA-TI Spice 模型
支持的产品和硬件
封装 引脚 CAD 符号、封装和 3D 模型
WSON (DSG) 8 Ultra Librarian
SOIC (D) 8 Ultra Librarian

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