ISOS510-SEP
- 辐射性能
- 电离辐射总剂量 (TID) 特征值(无 ELDRS)高达 50krad(Si)
- TID RLAT 高达 30krad(Si)
- 单粒子锁定 (SEL) 在 125°C 下对 LET 的抗扰度高达 43MeV-cm2/mg
- 单粒子功能中断 (SEFI) 和单粒子瞬变 (SET) 对于 LET 的额定值高达 43MeV-cm2/mg
- 增强型航天塑料(航天 EP)
- 符合 NASA ASTM E595 释气规格要求
- 军用级温度范围(-55°C 至 125°C)
- 单通道二极管输入
- IF = 5mA、VCE = 5V 时的电流传输比 (CTR):100% 至 155%
- 高集电极-发射极电压:VCE(最大值)= 30V
- 稳健 SiO2 隔离栅
- 隔离等级:3750VRMS
- 工作电压:500VRMS,707VPK
- 浪涌能力:高达 10kV
- 响应时间:VCE = 10V、IC = 2mA、RL = 100Ω 时为 3µs(典型值)
- 小型 4 引脚封装 (DFG)
- 安全相关认证:
- UL 1577 认证
- 符合由 VDE 按 DIN EN IEC 60747-17 (VDE 0884-17) 标准进行的认证
ISOS510 抗辐射 器件是一款具有晶体管输出的单通道电流驱动模拟隔离器。与其他电流驱动型模拟隔离器相比,该器件具有显著的可靠性和性能优势,包括高带宽、低关断延迟、低功耗、更宽的温度范围、平坦的电流传输比 (CTR),以及因严格的工艺控制而实现的极小器件间偏差。这些性能优势可在整个辐射、温度和使用寿命范围内保持稳定。
ISOS510 采用引脚间距为 2.54mm 的小型 SOIC-4 封装,支持 3.75kVRMS 隔离额定值。ISOS510 器件具有高性能和高可靠性,因此可用于航空航天和国防应用,例如隔离式直流/直流模块中的反馈环路、卫星推进电源处理单元、航天器电池管理系统等。
技术文档
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| 顶层文档 | 类型 | 标题 | 格式选项 | 下载最新的英语版本 | 日期 | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | 数据表 | ISOS510-SEP 具有晶体管输出的 抗 辐射电流驱动模拟隔离器 数据表 | PDF | HTML | 英语版 | PDF | HTML | 2025-8-19 |
| * | 辐射与可靠性报告 | ISOS510-SEP Single Event Effects Report | PDF | HTML | 2026-1-16 | ||
| * | 辐射与可靠性报告 | ISOS510-SEP Total Ionizing Dose (TID) Report | 2026-1-16 |
设计与开发
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评估板
ISOM-EVM — 通用光耦仿真器评估模块
ISOM-EVM 支持评估采用 5 引脚 DFF、4 引脚 DFG、4 引脚 DFH 和 4 引脚 DFS SOIC 封装的 TI 光耦仿真器。通过更改 EVM 配置和元件值,可以重新配置该评估模块 (EVM),以对不同的光耦仿真器、不同的输入信号或其他应用进行评估。该 EVM 没有在电路板上安装光耦仿真器 IC,允许用户安装自己选择的兼容 IC。用户可以将电路板分为三个单独的单元来单独测试印刷电路板。
| 封装 | 引脚 | CAD 符号、封装和 3D 模型 |
|---|---|---|
| SOIC (DFG) | 4 | Ultra Librarian |
订购和质量
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