TMUX154E
- VCC 工作电压为 3V 至 4.3V
- I/O 引脚可耐受电压高达 5.25V 的电压
- 兼容 1.8V 控制逻辑
- 支持关断保护,当 VCC = 0V 时,I/O 引脚处于高阻抗状态
- RON = 10Ω(最大值)
- ΔRON = 0.35Ω(典型值)
- Cio(ON) = 7.5pF(典型值)
- 低功耗(最大值为 1uA)
- –3dB 带宽 = 900MHz(典型值)
- 闩锁性能超过
100mA,符合 JESD 78 II 类规范 (1) - 静电放电 (ESD) 性能测试符合 JESD 22 标准
- 8000V 人体放电模型
(A114-B,II 类) - 1000V 充电器件模型 (C101)
- 8000V 人体放电模型
- ESD 性能 I/O 端口接地 (2)
- 15000V 人体放电模型
(1)EN 和 SEL 输入除外
(2)除标准 HBM 测试(A114-B,II 类)外还执行了高压 HBM 测试,仅适用于进行接地测试的 I/O 端口。
TMUX154E 是一款高带宽 2:1 开关,专门针对限制 I/O 的应用中的 高速信号开关 进行设计。此开关具有较宽的带宽 (900MHz),这一特性使得信号传递具有最少的边缘失真和相位失真。此开关为双向开关,高速信号衰减极少或者没有。它能实现低位间偏移和高通道间噪声隔离。
TMUX154E 在所有引脚上集成了 ESD 保护单元,采用微型 UQFN 封装 (1.8mm × 1.4mm) 或 VSSOP 封装,自然通风条件下的工作温度范围为 –40°C 至 85°C。
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接口适配器
LEADED-ADAPTER1 — 表面贴装转 DIP 接头适配器,用于快速测试 TI 的 5、8、10、16 和 24 引脚引线式封装。
EVM-LEADED1 电路板可用于对 TI 的常见引线式封装进行快速测试和电路板试验。 该电路板具有足够的空间,可将 TI 的 D、DBQ、DCT、DCU、DDF、DGS、DGV 和 PW 表面贴装封装转换为 100mil DIP 接头。
用户指南: PDF
接口适配器
LEADLESS-ADAPTER1 — 表面贴装转 DIP 接头适配器,用于测试 TI 的 6、8、10、12、14、16 和 20 引脚无引线封装
EVM-LEADLESS1 板可用于对 TI 的常见无引线封装进行快速测试和电路板试验。 该评估板有足够的空间,可将 TI 的 DRC、DTP、DQE、RBW、RGY、RSE、RSV、RSW RTE、RTJ、RUK、RUC、RUG、RUM、RUT 和 YZP 表面贴装封装转为 100mil DIP 接头。
用户指南: PDF
封装 | 引脚 | CAD 符号、封装和 3D 模型 |
---|---|---|
UQFN (RSW) | 10 | Ultra Librarian |
VSSOP (DGS) | 10 | Ultra Librarian |
订购和质量
包含信息:
- RoHS
- REACH
- 器件标识
- 引脚镀层/焊球材料
- MSL 等级/回流焊峰值温度
- MTBF/时基故障估算
- 材料成分
- 鉴定摘要
- 持续可靠性监测
包含信息:
- 制造厂地点
- 封装厂地点
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