ZHDA355 September 2022 DAC11001B
2.3 自动测试设备 (ATE) 和任意波形生成 (AWG)
半导体 ATE 专门设计用于测试各种电子器件（如二极管，FET）和集成电路（如线性及混合信号器件）。通过向被测器件 (DUT) 发送激励信号并且捕获来自 DUT 的响应来执行测试。根据要执行的测试，激励可以是静态的，也可以是动态的。
大多数这些测试仪都要求其驱动器电路能够生成分辨率为 16、18 或 20 位的激励信号，低于 1ppm 的直流精度水平，宽带宽超低噪声以及快速更新速率，以测试当今先进的器件。
图 2-1 DAC11001B 目标终端应用