ZHDA314 September 2026 THVD4431A
在总线线路之间添加电容,可为高频能量提供低阻抗路径,从而衰减瞬态。如果添加额外的磁珠来改善 EMI 性能,请遵循以下建议:
此解决方法可能对信号完整性具有轻微影响,因此 TI 建议用户在电路板上进行测试以验证信号完整性。图 4-3 显示,在总电容为 620pF 时,上升和下降时间从约 18ns 增加到约 40ns,并且仍完全支持 10Mbps 通信。
图 4-1 仿真结果:20pF 到 620pF CAP_LOAD 的影响
图 4-2 测试结果:增加总线电容器后无毛刺
图 4-3 仿真结果:增加 CAP_LOAD(120pF 和 620pF)的影响