最初的 MAIN ICT 计划执行以下工作：

1. A 侧至 B 侧测试
   1. 驱动模式开启（SDAA 和 SCLA，测量 SDAB 和 SCLB 上的输出）
   2. 00 / 01 / 10 / 11，SDAA = 0，SCLA = 0，下一个 SDAA = 0，SCLA = 1 ...
2. B 侧至 A 侧测试
   1. 驱动模式开启（SDAB 和 SCLB，测量 SDAA 和 SCLA 上的输出）
   2. 00 / 01 / 10 / 11，SDAB = 0，SCLA = 0，下一个 SDAB = 0，SCLB = 1 ...
3. 在这两个测试中，测量正确的输出模式 (00 / 01 / 10 /11)

然后，测试仪通过读回器件另一侧的相应图案来验证功能。在测试期间，ICT 系统主动驱动逻辑高电平和逻辑低电平状态，具有强大的边沿速率转换。

在硬件设置中，通道 SDAA、SCLA、SDAB 和 SCLB 上未连接串联电阻器。