5 辐射发射测试指南

电路板上的天线是产生辐射的主要原因。用于为系统供电的长电缆或用于测量任何参数的探头，会起到天线的作用并产生更高的发射读数。确保用于排放的设置与最终的系统运行条件非常接近。为此，确保系统进出电缆尽可能短或符合实际的系统使用条件。在 EMI 测试期间，也必须确保最终计划用于最终系统的电路板进行直接或电容连接或对保护接地 (PE) 进行金属屏蔽。

如果电源远离 DUT 且使用长导线连接，则建议在 DUT 附近使用共模扼流圈 (CMC)，以免长导线不必要地加剧辐射。在线缆上使用铁氧体磁芯钳位滤波器代替 CMC，可最大限度地减少其对发射测量的影响。通过使用这些滤波器，能够测量实际设置的发射，并消除长电缆的影响。将电路板上所需的任何额外元件（例如负载电阻器）直接焊接到电路板上，而不是使用长导线将它们连接到电路板上。

避免此类长导线的另一种方法是，如果受试设备 (EUT) 是直流供电的，则使用具有非常短导线的电池为 EUT 供电。图 5-1 所示为评估模块 ISOW6441DWEEVM 与 9V 供电碱性电池使用很短的导线连接。

尽管通常使用峰值检测器来快速获得测量结果，但 CISPR 32 标准规定将辐射发射限值作为准峰值限值。器件 ISOW6441 使用扩频时钟在小频率波段内改变开关频率，而不是将所有功率集中在一个频率上。当进行准峰值扫描时，这类方法可带来明显更好的结果。

首先进行峰值检测器测量，找出最差情况下测量的频率。然后，在选定的最差频率下进行准峰值测量，估算相对于 CISPR 32 准峰值限制线的真实裕度。