ZHCSUP2 March   2025 BQ76907-Q1

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特性
  3. 2 应用
  4. 3 说明
  5. 4 器件比较表
  6. 5 引脚配置和功能
  7. 6 规格
    1. 6.1  绝对最大额定值
    2. 6.2  ESD 等级
    3. 6.3  建议运行条件
    4. 6.4  BQ76907-Q1 热性能信息
    5. 6.5  电源电流
    6. 6.6  数字 I/O
    7. 6.7  REGOUT LDO
    8. 6.8  电压基准
    9. 6.9  库仑计
    10. 6.10 库仑计数字滤波器
    11. 6.11 电流唤醒检测器
    12. 6.12 模数转换器
    13. 6.13 电芯电压测量精度
    14. 6.14 电芯均衡
    15. 6.15 内部温度传感器
    16. 6.16 热敏电阻测量
    17. 6.17 硬件过热检测器
    18. 6.18 内部振荡器
    19. 6.19 充电和放电 FET 驱动器
    20. 6.20 基于比较器的保护子系统
    21. 6.21 时序要求 - I2C 接口，100kHz 模式
    22. 6.22 时序要求 - I2C 接口，400kHz 模式
    23. 6.23 时序图
    24. 6.24 典型特性
  8. 7 详细说明
    1. 7.1 概述
    2. 7.2 功能方框图
    3. 7.3 器件配置
      1. 7.3.1 命令和子命令
      2. 7.3.2 使用 OTP 或寄存器进行配置
      3. 7.3.3 器件安全性
    4. 7.4 器件硬件特性
      1. 7.4.1  电压 ADC
      2. 7.4.2  库仑计数器和数字滤波器
      3. 7.4.3  保护 FET 驱动器
      4. 7.4.4  电压基准
      5. 7.4.5  多路复用器
      6. 7.4.6  LDO
      7. 7.4.7  独立接口与主机接口
      8. 7.4.8  ALERT 引脚工作原理
      9. 7.4.9  低频振荡器
      10. 7.4.10 I2C 串行通信接口
    5. 7.5 测量子系统
      1. 7.5.1 电压测量
        1. 7.5.1.1 电压 ADC 调度
        2. 7.5.1.2 未使用的 VC 引脚
        3. 7.5.1.3 通用的 ADCIN 功能
      2. 7.5.2 电流测量和电荷积分
      3. 7.5.3 内部温度测量
      4. 7.5.4 热敏电阻温度测量
      5. 7.5.5 出厂调整和校准
    6. 7.6 保护子系统
      1. 7.6.1 保护概述
      2. 7.6.2 初级保护
      3. 7.6.3 CHG 检测器
      4. 7.6.4 电芯开路保护
      5. 7.6.5 诊断检查
    7. 7.7 电芯均衡
    8. 7.8 器件运行模式
      1. 7.8.1 运行模式概述
      2. 7.8.2 正常模式
      3. 7.8.3 SLEEP 模式
      4. 7.8.4 DEEPSLEEP 模式
      5. 7.8.5 SHUTDOWN 模式
      6. 7.8.6 CONFIG_UPDATE 模式
  9. 8 应用和实施
    1. 8.1 应用信息
    2. 8.2 典型应用
      1. 8.2.1 设计要求
      2. 8.2.2 详细设计过程
      3. 8.2.3 应用性能曲线图
      4. 8.2.4 随机电芯连接支持
      5. 8.2.5 启动时序
      6. 8.2.6 FET 驱动器关断
      7. 8.2.7 未使用引脚的使用
    3. 8.3 电源相关建议
    4. 8.4 布局
      1. 8.4.1 布局指南
      2. 8.4.2 布局示例
  10. 9 器件和文档支持
    1. 9.1 文档支持
      1. 9.1.1 相关文档
    2. 9.2 接收文档更新通知
    3. 9.3 支持资源
    4. 9.4 商标
    5. 9.5 静电放电警告
    6. 9.6 术语表
  11. 10修订历史记录
  12. 11机械、封装和可订购信息

6.20 基于比较器的保护子系统

所述典型值的条件是 TA = 25°C 且 VBAT = 25.9 V，最小值/最大值的条件是 TA = -40°C 至 125°C 且 VBAT = 3 V 至 38.5 V（除非另有说明）
参数 测试条件 最小值 典型值 最大值 单位
V(SCD) 放电短路电压阈值范围 标称设置，阈值基于 VSRP – VSRN –10、
–20、
–40、
–60、
–80、
–100、
–125、
–150、
–175、
–200、
–250、
–300、
–350、
–400、
–450、
–500		 mV
V(SCD_ACC) 放电短路电压阈值检测精度 (2) –10mV 设置 -43.3 39.8 标称阈值的百分比
-20mV 设置 -22.6 19 标称阈值的百分比
-40mV 设置 -14.2 9.7 标称阈值的百分比
设置 –60mV -12.0 7.0 标称阈值的百分比
设置 –80mV -9.6 5.8 标称阈值的百分比
设置 –100mV 至 -500mV -9.1 5.4 标称阈值的百分比
V(SCD_DLY) 放电短路检测延迟(1) 最快设置（具有 3mV 过驱） 8 µs
最快设置（具有 25mV 过驱） 0.6 µs
15µs 的设置（具有 3mV 过驱） 20 28 µs
15µs 的设置（具有 25mV 过驱） 20 µs
31µs 的设置（具有 25mV 过驱） 14 35 µs
61µs 的设置（具有 25mV 过驱） 42 66 µs
122µs 的设置（具有 25mV 过驱） 102 130 µs
244µs 的设置（具有 25mV 过驱） 218 258 µs
488µs 的设置（具有 25mV 过驱） 452 510 µs
977µs 的设置（具有 25mV 过驱） 920 1018 µs
1953µs 的设置（具有 25mV 过驱） 1860 2034 µs
3906µs 的设置（具有 25mV 过驱） 3735 4065 µs
7797µs 的设置（具有 25mV 过驱） 7470 8112 µs
V(OCC) 充电过流 (OCC) 电压阈值范围 标称设置，阈值基于 VSRP – VSRN 阶跃为 2mV 时，3mV 至 19mV，22mV 至 124mV mV
V(OCC_ACC) 充电过流 (OCC) 电压阈值精度 (2) 设置 3mV 至 19mV -1.45 1.81 mV
V(OCC_ACC) 充电过流 (OCC) 电压阈值精度 (2) 设置 22mV 至 80mV -3.02 2.95 mV
V(OCC_ACC) 充电过流 (OCC) 电压阈值精度 (2) 设置 82mV 至 124mV -4.05 5.26 mV
V(OCD) 放电过流（OCD1、OCD2）电压阈值范围 标称设置，阈值基于 VSRP – VSRN -4mV 至 -200mV（步长为 2mV） mV
V(OCD_ACC) 过流（OCD1、OCD2）检测电压阈值精度 (2) 设置 -4mV -1.76 1.4 mV
设置 -6mV 至 -16mV -1.45 1.0 mV
设置 –18mV 至 -166mV -3.34 3.27 mV
设置 –168mV 至 -200mV -3.98 4.38 mV
V(OC_DLY) 过流（OCC、OCD1、OCD2）检测延迟（每个保护均具有独立的延迟设置） 最快设置 0.46 ms
标称设置，低范围 1.22ms 至 20.435ms，以 0.305ms 为步长 ms
标称设置，中低范围 22.875ms 至 176.595ms，以 2.441ms 为步长 ms
标称设置，中高范围 181.475ms 至 488.915ms，以 4.883ms 为步长 ms
标称设置，高范围 498.675ms 至 1103.795ms，以 9.766ms 为步长 ms
V(OC_DLY) 过流（OCC、OCD1、OCD2）检测延迟精度(1) 最快设置 -0.35 0.35 ms
标称设置，低范围 -1.2 0.90 ms
标称设置，中低范围 -7.5 7.2 ms
标称设置，中高范围 -20 20 ms
标称设置，高范围 -45 45 ms
(1) 根据设计确定
(2) 由特性和生产测试的组合指定