ZHCSUP2 March   2025 BQ76907-Q1

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特性
  3. 2 应用
  4. 3 说明
  5. 4 器件比较表
  6. 5 引脚配置和功能
  7. 6 规格
    1. 6.1  绝对最大额定值
    2. 6.2  ESD 等级
    3. 6.3  建议运行条件
    4. 6.4  BQ76907-Q1 热性能信息
    5. 6.5  电源电流
    6. 6.6  数字 I/O
    7. 6.7  REGOUT LDO
    8. 6.8  电压基准
    9. 6.9  库仑计
    10. 6.10 库仑计数字滤波器
    11. 6.11 电流唤醒检测器
    12. 6.12 模数转换器
    13. 6.13 电芯电压测量精度
    14. 6.14 电芯均衡
    15. 6.15 内部温度传感器
    16. 6.16 热敏电阻测量
    17. 6.17 硬件过热检测器
    18. 6.18 内部振荡器
    19. 6.19 充电和放电 FET 驱动器
    20. 6.20 基于比较器的保护子系统
    21. 6.21 时序要求 - I2C 接口，100kHz 模式
    22. 6.22 时序要求 - I2C 接口，400kHz 模式
    23. 6.23 时序图
    24. 6.24 典型特性
  8. 7 详细说明
    1. 7.1 概述
    2. 7.2 功能方框图
    3. 7.3 器件配置
      1. 7.3.1 命令和子命令
      2. 7.3.2 使用 OTP 或寄存器进行配置
      3. 7.3.3 器件安全性
    4. 7.4 器件硬件特性
      1. 7.4.1  电压 ADC
      2. 7.4.2  库仑计数器和数字滤波器
      3. 7.4.3  保护 FET 驱动器
      4. 7.4.4  电压基准
      5. 7.4.5  多路复用器
      6. 7.4.6  LDO
      7. 7.4.7  独立接口与主机接口
      8. 7.4.8  ALERT 引脚工作原理
      9. 7.4.9  低频振荡器
      10. 7.4.10 I2C 串行通信接口
    5. 7.5 测量子系统
      1. 7.5.1 电压测量
        1. 7.5.1.1 电压 ADC 调度
        2. 7.5.1.2 未使用的 VC 引脚
        3. 7.5.1.3 通用的 ADCIN 功能
      2. 7.5.2 电流测量和电荷积分
      3. 7.5.3 内部温度测量
      4. 7.5.4 热敏电阻温度测量
      5. 7.5.5 出厂调整和校准
    6. 7.6 保护子系统
      1. 7.6.1 保护概述
      2. 7.6.2 初级保护
      3. 7.6.3 CHG 检测器
      4. 7.6.4 电芯开路保护
      5. 7.6.5 诊断检查
    7. 7.7 电芯均衡
    8. 7.8 器件运行模式
      1. 7.8.1 运行模式概述
      2. 7.8.2 正常模式
      3. 7.8.3 SLEEP 模式
      4. 7.8.4 DEEPSLEEP 模式
      5. 7.8.5 SHUTDOWN 模式
      6. 7.8.6 CONFIG_UPDATE 模式
  9. 8 应用和实施
    1. 8.1 应用信息
    2. 8.2 典型应用
      1. 8.2.1 设计要求
      2. 8.2.2 详细设计过程
      3. 8.2.3 应用性能曲线图
      4. 8.2.4 随机电芯连接支持
      5. 8.2.5 启动时序
      6. 8.2.6 FET 驱动器关断
      7. 8.2.7 未使用引脚的使用
    3. 8.3 电源相关建议
    4. 8.4 布局
      1. 8.4.1 布局指南
      2. 8.4.2 布局示例
  10. 9 器件和文档支持
    1. 9.1 文档支持
      1. 9.1.1 相关文档
    2. 9.2 接收文档更新通知
    3. 9.3 支持资源
    4. 9.4 商标
    5. 9.5 静电放电警告
    6. 9.6 术语表
  11. 10修订历史记录
  12. 11机械、封装和可订购信息

6.16 热敏电阻测量

所述典型值的条件是 TA = 25°C 且 VBAT = 25.9 V，最小值/最大值的条件是 TA = -40°C 至 125°C 且 VBAT = 3 V 至 38.5 V（除非另有说明）
参数 测试条件 最小值 典型值 最大值 单位
R(TS_PU) 25°C 时的内部上拉电阻(1) 19.75 20 20.25 kΩ
R(TS_PU_DRIFT) 内部上拉电阻随温度的变化 (1) (2) -20°C/+65°C 范围内的变化与 25°C 时的值 -23 28 Ω
R(TS_PU_DRIFT) 内部上拉电阻随温度的变化 (1) (2) -40°C/+125°C 范围内的变化与 25°C 时的值 -28 38 Ω
(1) 内部上拉电阻仅包括 REG18 内部 LDO 与 ADC 电压检测点之间的电阻。
(2) 根据特征确定