2 MSPM0 调试寄存器简介

MSPM0 使用 ARM® M0+ 内核，允许用户按照 ARM 介绍的程序将器件从 JTAG 切换到 SWD。与通用 ARM 内核相似，MSPM0 主要使用调试器根据 SWD 协议在 AP 和 DP 之间传输数据，以访问 MCU 内部。

MSPM0 器件支持调试处理器执行情况、器件状态和电源状态（通过 EnergyTrace™ 技术）。DEBUGSS 还提供了一个邮箱系统，可通过 SWD 与软件进行通信。

图 2-1 ARM Cortex 器件调试方框图

图 2-1 显示了 MSPM0 调试子系统方框图MSPM0 器件支持调试处理器执行情况、器件状态和电源状态（通过 EnergyTrace 技术）。DEBUGSS 还提供了一个邮箱系统，可通过 SWD 与软件进行通信。

图 2-2 调试子系统方框图

SWD 物理接口与 ARM 串行线调试端口 (SW-DP) 进行交互，以便在启用 SW-DP 时获得对调试访问端口总线互连 (DAPBUSIC) 的访问权限。

在 DEBUGSS 中有多个调试访问端口。

表 2-1 DEBUGSS 访问端口列表

AP	端口描述	用途
AHB-AP	MCPUSS 调试访问端口	处理器和外设的调试
CFG-AP	配置访问端口	访问器件类型信息，包括器件型号和器件版本。
SEC-AP	安全访问端口	在引导期间或通过 SWD 与器件上运行的软件进行通信期间访问调试子系统邮箱 (DSSM)，以便向器件传输命令。
ET-AP	EnergyTrace™ 技术访问端口	读取 EnergyTrace 技术的电源状态数据来进行功率感知调试
PWR-AP	电源访问端口	配置器件电源状态（与 PMCU/SYSCTL 连接），使能启用低功耗模式处理

AHB-AP、PWR-AP 和 ET-AP 提供完整的器件调试功能（处理器调试、外设和存储器总线访问、电源状态控制和处理器状态）。它们可通过 NONMAIN 中的 BOOTCFG0 寄存器禁用。