ZHCACV1 july   2023 LMK6C , LMK6D , LMK6H , LMK6P

 

  1.   1
  2.   摘要
  3.   商标
  4. 1引言
  5. 2测试标准和测试设置
    1. 2.1 测试标准
    2. 2.2 振动实验室中的测试设置
  6. 3正弦振动、随机振动和机械冲击测试
    1. 3.1 正弦振动测试
      1. 3.1.1 正弦振动测试过程
      2. 3.1.2 正弦振动测试的结果
    2. 3.2 随机振动测试
      1. 3.2.1 随机振动测试过程
      2. 3.2.2 随机振动测试的结果
    3. 3.3 机械冲击测试
      1. 3.3.1 机械冲击测试过程
      2. 3.3.2 机械冲击测试结果
  7. 4BAW 振荡器与晶体振荡器的振动性能比较
    1. 4.1 比较测试设置
    2. 4.2 对比测试结果
  8. 5总结
  9. 6参考文献

比较测试设置

选择 MIL-STD-883H 方法 2026.B 进行振动比较测试。该测试模式让 DUT 经受 7.3g rms 的加速度。图 4-1 显示了在实验中创建的振动测试设置。固定装置安装在振动台上,然后沿着垂直轴以特定幅度进行加速。在 BAW 振荡器和晶体振荡器器件上执行了三项测试。与石英振荡器相比,BAW 振荡器表现出更好的抗振性。

GUID-20230628-SS0I-LB9D-KLN2-MJSPM0KDX5HX-low.svg图 4-1 振动测试实验室设置图

随机振动也会增加振荡器相位噪声。测试硬件会根据 MIL-STD-883H 中的功率频谱密度水平,在指定频率范围内产生随机振动。由于随机振动分布在一系列频率范围内,因此来自 DUT 的输出时钟的相位噪声总体上会增加,而不仅仅是在正弦振动测试中通常观察到的特定频率偏移处出现杂散。集成 RMS 相位抖动值在 12kHz 至 20MHz 范围内的集成频带上进行测量。分别在存在和不存在振动的情况下进行测量,并计算两种情况之间的 RMS 抖动差异,以确定每个 DUT 的振动引起的抖动。