ZHCAAJ8A June 2019 – March 2021 2N7001T , SN74AXC4T245 , SN74AXC4T774 , TXB0104
联合测试行动组开发了一个硬件接口,用于对嵌入式器件进行调试、编程和测试。与 SPI 类似,JTAG 在工作时使用一组(五个)JTAG 接口信号,如表 5-1 所示。
信号 | 说明 | 方向 |
---|---|---|
TCK | 测试时钟信号 | 控制器到调试器 |
TDI | 测试数据输入 | 控制器到调试器 |
TDO | 测试数据输出 | 调试器到控制器 |
TMS | 测试模式选择 | 控制器到调试器 |
TRST(可选) | 测试复位 | 控制器到调试器 |
测试时钟用于提供测试数据达到的稳定时序信号。“测试模式选择”允许用户选择要测试的部分或电路。JTAG 协议取决于所测试的器件。TDI 是用于执行测试的引脚,结果将通过 TDO 引脚返回。可选的测试复位引脚能够将 JTAG 复位到已知良好的状态。
通常,一块板上有多个器件需要通过 JTAG 接口进行测试。使用 JTAG,这些器件可通过 TDO 引脚以菊花链的方式相互连接,而 TDO 引脚可延伸到链中的最后一个器件之外。如果菊花链中的最后一个器件处于不同的电压电平下,可使用 2N7001T 进行电压转换。TDO 的信号流与其他引脚的方向相反,允许将 2N7001T 与 SN74AXC4T245 结合用于其余三个通道。