了解 NG 後，即可輕鬆測量 RTO 雜訊，然後計算放大器電路的 RTI 雜訊。圖 2-4顯示測量的放大器與 HP4395A 頻譜分析器模擬 RTO 雜訊、RTI 雜訊及所測量雜訊基準的比較。

在圖 2-4中，測量的放大器 RTO 雜訊曲線與模擬 RTO 雜訊非常匹配。測量的放大器 RTO 雜訊也比頻譜分析器測量的雜訊基準高 10dB（如要求），因此可實現高於 95% 的量測準確度。

同樣，透過將測量的 RTO 雜訊除以 NG 所計算出的放大器 RTI 雜訊，與模擬 RTI 雜訊吻合良好。測量的放大器 RTI 雜訊可做為 LDO 雜訊測量的新（經改善）雜訊基準。

在對 LDO (DUT) 進行雜訊量測之前，TI 建議驗證另一項量測以確認放大器性能。使用像 NC6105A 這樣的平坦白雜訊產生器，在 10Hz–10MHz 的 BW 中產生 10nV/Hz (-147dBm) 的平坦雜訊，然後使用此設計測量該雜訊。這種極低的雜訊位準略低於 HP4395A 的雜訊基準。圖 2-5顯示測量到的平坦雜訊為 10nV/Hz。

可使用此放大器測量較低的雜訊位準（低至 1nV/Hz 且可能為 0.9nV/Hz），但是，放大器的輸入雜訊低於實際放大器的雜訊（運算放大器 1/f 雜訊），低於 1kHz，如圖 2-6所示。