ZHCSZ72A September 2025 – November 2025 UCC27834-Q1 , UCC27884-Q1
PRODUCTION DATA
UCC278X4-Q1 的功率损耗 (PUCC278X4-Q1) 通过计算几个元件产生的损耗来估算。由静态电流 (IQDD、IQBS) 和空载开关引起的合并功率损耗计算如下:
可参阅图 5-16 查找 IVDD 和 IVHB。
在驱动 FET Q1 和 Q2 时,由栅极电荷产生的动态损耗计算如下。请注意,该元件产生的损耗通常超过与 UCC278X4-Q1 中的内部 VDD 和 VHB 开关逻辑电路相关的动态损耗。
动态损耗由栅极驱动 IC 的内部上拉和下拉电阻、外部栅极电阻以及开关器件的内部栅极电阻共同分担。上拉电阻在开关期间会动态变化,因此采用 ROH 会高估栅极驱动器的功率耗散,但这能为设计提供裕量。
本例的栅极驱动器 IC 中的总功率损耗计算如下: