ZHCSYQ2E October 1987 – July 2025 TLC27L2 , TLC27L2A , TLC27L2B , TLC27L7
PRODUCTION DATA
请参考 PDF 数据表获取器件具体的封装图。
CMOS 器件由于固有的寄生晶闸管，容易发生闩锁效应。考虑到这一点，TLC27Lx 输入和输出设计为能够承受−100mA浪涌电流而不会发生闩锁。但是，应尽可能使用最佳实践来降低发生闩锁的可能性。不要正向偏置内部保护二极管。输入和输出端的电压不得超过电源电压的 300mV 以上。使用脉冲发生器的电容耦合时应注意。使用去耦电容器（典型值为 0.1µF），并将其尽可能靠近器件的位置并联在电源轨上，以滤除电源瞬变。
发生闩锁时，电流路径通常形成于正电源导轨与接地之间，其触发原因包括电源线上的浪涌、电压超过电源电压的输入或输出信号，或两者兼有。发生闩锁效应后，电流仅受电源阻抗和寄生晶闸管的正向电阻的限制，通常会导致器件损坏。发生闩锁效应的可能性随着温度和电源电压的上升而增加。