7 修订历史记录
Changes from Revision G (January 2005) to Revision H (September 2026)
- 删除了“特性”部分中的内部频率补偿Go
- 添加了“应用”部分Go
- 将“订购信息”表从旧格式更新为新格式Go
- 删除了示例原理图Go
- 更新了绝对最大额定值Go
- 添加了“ESD 等级”部分Go
- 添加了“热性能信息”部分Go
- 将输入偏移电压典型值从 2mV 更改为 ±0.3mV，并更改了测试条件Go
- 将输入偏移电压的温度系数典型值从 10µV/°C 更改为 0.6µV/°C，并删除了测试条件Go
- 将输入偏移电流典型值从±30nA 更改为 ±0.005nA，并删除了测试条件以及完整温度范围行Go
- 删除了输入偏移电流的温度系数Go
- 将输入偏置电流从 –200nA 更改为 ±0.01nA，并删除了测试条件以及完整温度范围行Go
- 将共模输入电压范围最小值从 VCC- 至 13 更改为 (V-) 至 13，并将典型值从 VCC- 至 13.5 更改为 (V-) - 0.2 至 (V+) + 0.2Go
- 将 RL = 10kΩ 的峰值输出电压摆幅典型电压从 ±13.5V 更改为 ±14.95V，并将 RL = 2kΩ 的峰值输出电压摆幅典型电压从 ±13V 更改为 ±14.8VGo
- 将 25°C 时的大信号差动电压放大增益最小值从 20V/mV 更改为 86V/mV，并将典型值从 200V/mV 更改为 145V/mV。Go
- 将完整温度范围下大信号差动电压放大增益最小值从 15V/mV 更改为 83V/mVGo
- 将最大输出摆幅带宽典型值从 9kHz 更改为 40kHz，并将测试条件从 RL = 2kΩ 更改为 RL = 10kΩGo
- 将相位裕度测试条件从 CL = 200pF 更改为 CL = 80pFGo
- 将输入电阻典型值从 1MΩ 更改为 540GΩ，并删除了最小值和最大值以及测试条件Go
- 将输出电阻典型值从 75Ω 更改为 575Ω，并将测试条件从 f = 20Hz 更改为 f = 1MHzGo
- 将共模抑制比典型值从 90dB 更新为 115dBGo
- 将电源电压灵敏度典型值从 30μV/V 更改为 0.75μV/VGo
- 将短路输出电流典型值从 30mA 更改为 80mAGo
- 删除了短路输出电流的最大值Go
- 将总电源电流典型值从 0.7mA 更改为 0.13mA，并更改了测试条件Go
- 删除了电气特性表注释Go
- 将输入偏移电压典型值从 2mV 更改为 0.3mVGo
- 将输入偏移电流典型值从 30nA 更改为 0.005nAGo
- 将输入偏置电流典型值从 200nA 更改为 0.01nAGo
- 将最大峰值输出电压摆幅典型值从 3.5V 更改为 4.8VGo
- 将大信号差动电压放大增益最小值从 20V/mV 更改为 86db，并将典型值从 200V/mV 更改为 118dbGo
- 将电源电流典型值从 0.7mA 更改为 0.13mAGo
- 将单位增益时的转换率典型值从 1V/µs 更改为 4.5V/µs，并更新了测试条件Go
- 将上升时间更改为趋稳时间，将典型值从 0.35µs 更改为 2µs，并更新了测试条件Go
- 删除了下降时间Go
- 删除了过冲系数Go
- 将交越失真更改为总计谐波失真 + 噪声，将典型值从 1% 更改为 0.002%，并更新了测试条件Go
- 删除了“参数测量信息”部分Go
- 根据新裸片特性更新了典型特性 部分Go
- 添加了新旧裸片比较 主题Go