ZHCSPN6A January   2024  – December 2024 TAC5311-Q1

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特性
  3. 2 应用
  4. 3 说明
  5. 4 引脚配置和功能
  6. 5 规格
    1. 5.1  绝对最大额定值
    2. 5.2  ESD 等级
    3. 5.3  建议运行条件
    4. 5.4  热性能信息
    5. 5.5  电气特性
    6. 5.6  时序要求：I2C 接口
    7. 5.7  开关特性：I2C 接口
    8. 5.8  时序要求：SPI 接口
    9. 5.9  开关特性：SPI 接口
    10. 5.10 时序要求：TDM、I2S 或 LJ 接口
    11. 5.11 开关特性：TDM、I2S 或 LJ 接口
    12. 5.12 时序要求：PDM 数字麦克风接口
    13. 5.13 开关特性：PDM 数字麦克风接口
    14. 5.14 时序图
    15. 5.15 典型特性
  7. 6 详细说明
    1. 6.1 概述
    2. 6.2 功能方框图
    3. 6.3 特性说明
      1. 6.3.1  串行接口
        1. 6.3.1.1 控制串行接口
        2. 6.3.1.2 音频串行接口
          1. 6.3.1.2.1 时分多路复用 (TDM) 音频接口
          2. 6.3.1.2.2 IC 间音频 (I2S) 接口
          3. 6.3.1.2.3 左对齐 (LJ) 接口
        3. 6.3.1.3 通过共享总线使用多个器件
      2. 6.3.2  锁相环 (PLL) 和时钟生成
      3. 6.3.3  输入通道配置
      4. 6.3.4  基准电压
      5. 6.3.5  麦克风偏置
      6. 6.3.6  数字 PDM 麦克风录音通道
      7. 6.3.7  信号链处理
        1. 6.3.7.1 ADC 信号链
          1. 6.3.7.1.1 可编程通道增益和数字音量控制
          2. 6.3.7.1.2 可编程通道增益校准
          3. 6.3.7.1.3 可编程通道相位校准
          4. 6.3.7.1.4 可编程数字高通滤波器
          5. 6.3.7.1.5 可编程数字双二阶滤波器
          6. 6.3.7.1.6 可编程通道加法器和数字混频器
          7. 6.3.7.1.7 可配置数字抽取滤波器
            1. 6.3.7.1.7.1 线性相位滤波器
              1. 6.3.7.1.7.1.1 采样速率：8kHz 或 7.35kHz
              2. 6.3.7.1.7.1.2 采样速率：16kHz 或 14.7kHz
              3. 6.3.7.1.7.1.3 采样速率：24kHz 或 22.05kHz
              4. 6.3.7.1.7.1.4 采样速率：32kHz 或 29.4kHz
              5. 6.3.7.1.7.1.5 采样速率：48kHz 或 44.1kHz
              6. 6.3.7.1.7.1.6 采样速率：96kHz 或 88.2kHz
              7. 6.3.7.1.7.1.7 采样速率：192kHz 或 176.4kHz
              8. 6.3.7.1.7.1.8 采样速率：384kHz 或 352.8kHz
              9. 6.3.7.1.7.1.9 采样速率：768kHz 或 705.6kHz
            2. 6.3.7.1.7.2 低延迟滤波器
              1. 6.3.7.1.7.2.1 采样速率：24kHz 或 22.05kHz
              2. 6.3.7.1.7.2.2 采样速率：32kHz 或 29.4kHz
              3. 6.3.7.1.7.2.3 采样速率：48kHz 或 44.1kHz
              4. 6.3.7.1.7.2.4 采样速率：96kHz 或 88.2kHz
              5. 6.3.7.1.7.2.5 采样速率：192kHz 或 176.4kHz
            3. 6.3.7.1.7.3 超低延迟滤波器
              1. 6.3.7.1.7.3.1 采样速率：24kHz 或 22.05kHz
              2. 6.3.7.1.7.3.2 采样速率：32kHz 或 29.4kHz
              3. 6.3.7.1.7.3.3 采样速率：48kHz 或 44.1kHz
              4. 6.3.7.1.7.3.4 采样速率：96kHz 或 88.2kHz
              5. 6.3.7.1.7.3.5 采样速率：192kHz 或 176.4kHz
        2. 6.3.7.2 DAC 信号链
          1. 6.3.7.2.1 可编程通道增益和数字音量控制
          2. 6.3.7.2.2 可编程通道增益校准
          3. 6.3.7.2.3 可编程数字高通滤波器
          4. 6.3.7.2.4 可编程数字双二阶滤波器
          5. 6.3.7.2.5 可编程数字混频器
          6. 6.3.7.2.6 可配置数字内插滤波器
            1. 6.3.7.2.6.1 线性相位滤波器
              1. 6.3.7.2.6.1.1 采样速率：8kHz 或 7.35kHz
              2. 6.3.7.2.6.1.2 采样速率：16kHz 或 14.7kHz
              3. 6.3.7.2.6.1.3 采样速率：24kHz 或 22.05kHz
              4. 6.3.7.2.6.1.4 采样速率：32kHz 或 29.4kHz
              5. 6.3.7.2.6.1.5 采样速率：48kHz 或 44.1kHz
              6. 6.3.7.2.6.1.6 采样速率：96kHz 或 88.2kHz
              7. 6.3.7.2.6.1.7 采样速率：192kHz 或 176.4kHz
            2. 6.3.7.2.6.2 低延迟滤波器
              1. 6.3.7.2.6.2.1 采样速率：24kHz 或 22.05kHz
              2. 6.3.7.2.6.2.2 采样速率：32kHz 或 29.4kHz
              3. 6.3.7.2.6.2.3 采样速率：48kHz 或 44.1kHz
              4. 6.3.7.2.6.2.4 采样速率：96kHz 或 88.2kHz
              5. 6.3.7.2.6.2.5 采样速率：192kHz 或 176.4kHz
      8. 6.3.8  中断、状态和数字 I/O 引脚多路复用
      9. 6.3.9  输入直流故障诊断
      10. 6.3.10 Power Tune 模式
    4. 6.4 器件功能模式
      1. 6.4.1 睡眠模式或软件关断
      2. 6.4.2 软件复位
      3. 6.4.3 工作模式
    5. 6.5 编程
      1. 6.5.1 控制串行接口
        1. 6.5.1.1 I2C 控制接口
          1. 6.5.1.1.1 常规 I2C 运行
          2. 6.5.1.1.2 I2C 单字节和多字节传输
            1. 6.5.1.1.2.1 I2C 单字节写入
            2. 6.5.1.1.2.2 I2C 多字节写入
            3. 6.5.1.1.2.3 I2C 单字节读取
            4. 6.5.1.1.2.4 I2C 多字节读取
        2. 6.5.1.2 SPI 控制接口
  8. 7 寄存器映射
    1. 7.1 器件配置寄存器
      1. 7.1.1 TAC5311-Q1_B0_P0 寄存器
      2. 7.1.2 TAC5311-Q1_B0_P1 寄存器
    2. 7.2 可编程系数寄存器
      1. 7.2.1  可编程系数寄存器：页面 8
      2. 7.2.2  可编程系数寄存器：页面 9
        1. 7.2.2.1 TAC5311-Q1_B0_P3 寄存器
      3. 7.2.3  可编程系数寄存器：页面 10
      4. 7.2.4  可编程系数寄存器：页面 11
      5. 7.2.5  可编程系数寄存器：页面 15
      6. 7.2.6  可编程系数寄存器：页面 16
      7. 7.2.7  可编程系数寄存器：页面 17
      8. 7.2.8  可编程系数寄存器：页面 18
      9. 7.2.9  可编程系数寄存器：页面 19
      10. 7.2.10 可编程系数寄存器：页面 25
      11. 7.2.11 可编程系数寄存器：页面 26
      12. 7.2.12 可编程系数寄存器：页面 27
      13. 7.2.13 可编程系数寄存器：页面 28
  9. 8 应用和实施
    1. 8.1 应用信息
    2. 8.2 典型应用
      1. 8.2.1 应用
      2. 8.2.2 设计要求
      3. 8.2.3 详细设计过程
      4. 8.2.4 应用性能曲线图
      5. 8.2.5 EVM 设置的器件寄存器配置脚本示例
    3. 8.3 电源相关建议
      1. 8.3.1 适用于 1.8V 和 1.2V 运行的 IOVDD_IO_MODE
    4. 8.4 布局
      1. 8.4.1 布局指南
      2. 8.4.2 布局示例
  10. 9 器件和文档支持
    1. 9.1 文档支持
      1. 9.1.1 相关文档
    2. 9.2 接收文档更新通知
    3. 9.3 支持资源
    4. 9.4 商标
    5. 9.5 静电放电警告
    6. 9.6 术语表
  11. 10修订历史记录
  12. 11机械、封装和可订购信息

封装选项

机械数据 (封装 | 引脚)
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息

6.3.9 输入直流故障诊断

TAC5311-Q1 的每个输入都具有非常全面的直流故障诊断功能，这些诊断功能可以配置用于检测直流耦合输入配置中的故障状况并触发发送到主机处理器的中断请求。通过配置 DIAG_CFG0 (P1_R70) 可以为每个通道启用诊断功能。对于启用了诊断功能的通道，输入引脚由具有可编程重复率的集成 SAR ADC 自动扫描。诊断处理器会对每次测试八个连续样本取平均值来提高噪声性能。交流耦合输入配置中不支持直流故障诊断。

该器件具有各种可编程阈值寄存器 P1_R71 至 P1_R72，这些寄存器可以由主机处理器进行配置，以便为不同类别的故障条件检测定义故障区域。此外，还有一个去抖功能，该功能使用 FAULT_DBNCE_SEL (P1_R74_D[3:2]) 进行配置。该功能设置在触发锁存状态寄存器之前发生故障情况时的连续扫描计数，从而减少瞬态事件引起的错误触发。

有关更多详细信息，请参阅 TAx5xxx-Q1 故障诊断功能 应用报告。