ZHCSFD2B August 2016 – February 2022 CSD23285F5
PRODUCTION DATA
该 29mΩ、-12V N 沟道 FemtoFET™ MOSFET 技术经过设计和优化,能够最大限度地减小在许多手持式和移动应用中占用的空间。这项技术能够在替代标准小信号 MOSFET 的同时大幅减小封装尺寸。
图 3-1 典型器件尺寸| TA = 25°C | 典型值 | 单位 | ||
|---|---|---|---|---|
| VDS | 漏源电压 | –12 | V | |
| Qg | 栅极电荷总量 (-4.5V) | 3.2 | nC | |
| Qgd | 栅极电荷(栅极到漏极) | 0.48 | nC | |
| RDS(on) | 漏源导通电阻 | VGS = –1.5V | 64 | mΩ |
| VGS = -1.8V | 49 | |||
| VGS = -2.5V | 38 | |||
| VGS = -4.5V | 29 | |||
| VGS(th) | 阈值电压 | –0.65 | V | |
| 器件 | 数量 | 介质 | 封装 | 配送 |
|---|---|---|---|---|
| CSD23285F5 | 3000 | 7 英寸卷带 | Femto 1.53mm × 0.77mm 无引线 SMD | 卷带式 |
| CSD23285F5T | 250 |
| TA = 25°C | 值 | 单位 | |
|---|---|---|---|
| VDS | 漏源电压 | –12 | V |
| VGS | 栅源电压 | –6 | V |
| ID | 持续漏极电流(1) | –3.3 | A |
| 持续漏极电流(2) | –5.4 | ||
| IDM | 脉冲漏极电流(1)(3) | –31 | A |
| PD | 功率耗散(1) | 0.5 | W |
| 功率耗散(2) | 1.4 | ||
| V(ESD) | 人体放电模型 (HBM) | 4000 | V |
| 充电器件模型 (CDM) | 2000 | ||
| TJ、 Tstg | 工作结温、 贮存温度 | –55 至 150 | °C |
图 3-2 顶视图