ZHCU887D September 2020 – January 2022 TMS320F280040-Q1 , TMS320F280040C-Q1 , TMS320F280041 , TMS320F280041-Q1 , TMS320F280041C , TMS320F280041C-Q1 , TMS320F280045 , TMS320F280048-Q1 , TMS320F280048C-Q1 , TMS320F280049 , TMS320F280049-Q1 , TMS320F280049C , TMS320F280049C-Q1
片上闪存由单错校正双错检测 (SECDED) 错误校正码 (ECC) 诊断支持。在该 SECDED 机制中,使用一个 8 位代码字来存储 64 位数据的 ECC 和相应的地址。闪存组输出的 ECC 解码逻辑检查存储器内容的正确性。对读取的每个数据和程序都进行 ECC 评估。连接 CPU 和闪存的数据和程序互连不受 ECC 保护。根据是否启用校正功能,可以校正或不校正检测到的可校正错误。单一位地址 ECC 错误被标记为不可校正的错误。无法校正的错误将生成 NMI 并使 ERRORSTS 引脚置位。通过闪存包装程序监测已校正错误(单一位数据错误)的计数,一旦计数超过编程阈值,就会生成中断。最后一个错误位置的损坏存储器地址也记录在闪存包装程序中。