ZHCU887D September 2020 – January 2022 TMS320F280040-Q1 , TMS320F280040C-Q1 , TMS320F280041 , TMS320F280041-Q1 , TMS320F280041C , TMS320F280041C-Q1 , TMS320F280045 , TMS320F280048-Q1 , TMS320F280048C-Q1 , TMS320F280049 , TMS320F280049-Q1 , TMS320F280049C , TMS320F280049C-Q1
存储器的启动测试可用于检测片上存储器内的永久性故障。某些 C2000 器件系列产品支持可编程内置自检 (PBIST),这是通过配置客户 OTP 字段来测试存储器的一种简单有效的方法。PBIST 架构由一个小型协处理器和一个专门针对存储器测试的专用指令集组成。该协处理器在触发时执行存储在 PBIST ROM 中的测试例程,并在多个片上存储器实例上运行这些例程。片上存储器配置信息也存储在 PBIST ROM 中。针对已实现 SRAM 和 ROM 上的永久性故障,PBIST 提供了非常高的诊断覆盖率。如果配置了 PBIST,则在所有存储器实例上执行测试(对 SRAM 执行 March13n,对 ROM 执行 Triple_read_xor_read)。PBIST 测试状态存储在片上存储器中。PBIST 所涵盖的术语“存储器”指的是 SRAM 和 ROM。闪存测试并非本规范的一部分。
用于存储器测试的代码位于引导 ROM 中,所以无法用 PBIST 测试引导 ROM。因此,在 PBIST 之前,将进行单独的引导 ROM 校验和测试。在使用 PBIST 执行任何测试之前,会执行一个始终失败测试用例。这是为了验证 PBIST 控制器正常运行及其指示失效的能力。更多详细信息,请参阅 C2000 存储器内置自检 (M-POST)。