TIDA-00155

用于对液体和固体进行光学分析的 DLP® 近红外光谱仪

TIDA-00155

设计文件

概述

此近红外线 (NIR) 光谱仪参考设计利用德州仪器 (TI) 的 DLP 技术以及单元件 InGaAs 检测器进行高性能的测量,该设计具有便携式外形,与昂贵的 InGaAs 阵列检测器或易损的旋转光栅架构相比更实惠。NIR 光谱仪通常用于针对食品、农业、药物、石油化工产品和塑料等应用分析有机液体和固体。 开发人员在高端实验室级光谱仪中结合强大的 Sitara 嵌入式处理器和模拟信号链元件后,现在它能够在现场和生产线上发挥自己的作用。

特性
  • 在不到 1 秒的时间内以大于 30,000:1 的信噪比 (SNR) 在 1350 至 2450 nm 的波长范围获取光谱透射数据
  • 单元件 InGaAs 检测器设计提供高光通量以及与 InGaAs 阵列相比更实惠的价格点
  • 可编程波长滤波可实现恒定 SNR 扫描、即时波长和分辨率调节以及化学计量算法
  • 利用多达 1824 个数据点进行高分辨率光谱采集
  • 基于 Beagle Bone Black 开放源码架构的 Linux 操作系统和集成 Web 服务器通过 USB、WiFi 或 蓝牙支持灵活连接
  • 基于 MEMS 的强大设计,对于便携式设备无需移动光栅或微镜
工业
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设计文件和产品

设计文件

下载现成的系统文件,加快您的设计过程。

TIDU236.PDF (305 K)

参考设计的测试结果,包括效率图表,测试前提条件等

TIDR417A.ZIP (1220 K)

设计布局和元件的详细原理图

TIDR418B.ZIP (209 K)

设计元件、引用标识符和制造商/器件型号的完整列表

TIDC293C.ZIP (130937 K)

元件放置方式设计布局的详细原理图

产品

在设计中包括 TI 产品和可能的替代产品。

LCD 和 OLED 显示电源和驱动器

TPS65145具有完全集成的正电荷泵、3.3V LDO 控制器、0.96A 最小升压电流限制和故障检测的 4 通道 LCD 偏置

数据表: PDF | HTML
Precision ADCs

ADS125524 位 30kSPS 极低噪声 Δ-Σ ADC

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串联电压基准

REF50252.5V、3µVpp/V 噪声、3ppm/°C 温漂、精密串联电压基准

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仪表放大器

INA330用于温度控制的热敏电阻信号放大器

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光谱分析和光纤网络产品

DLP4500NIRDLP® 0.45 WXGA NIR DMD

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功率运算放大器

OPA569功率运算放大器,电源轨输出信号摆幅在 200mV 内(输出电流为 2A)

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可见光产品(420nm 至 700nm)

DLPC350适用于 DLP4500 DMD 和 DLP4500NIR DMD 的 数字控制器

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基于 Arm 的处理器

AM3358Sitara 处理器: Arm Cortex-A8、3D 图形、PRU-ICSS、CAN

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多通道 IC (PMIC)

TPS65217具有 3 个直流/直流转换器、4 个 LDO、线性电池充电器和白光 LED 驱动器的电源管理 IC (PMIC)

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精密运算放大器 (Vos<1mV)

OPA2376双通道、低噪声、低静态电流、精密运算放大器

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线性和低压降 (LDO) 稳压器

TPS730具有使能功能的 200mA、低压降稳压器

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降压转换器(集成开关)

TPS652514.5V 至 18V 输入、3A/2A/2A 输出、三路同步降压转换器

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开始开发

硬件

评估板

DLPNIRSCANEVM — DLP® NIRscan™ 评估模块

The DLP NIRscan is a complete evaluation module (EVM) to design a high performance, affordable near-infrared spectrometer.  This flexible tool contains everything a designer needs to start developing a DLP-based spectrometer right out of the box.  The EVM features the DLP 0.45 WXGA NIR (...)

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类型 标题 下载最新的英文版本 日期
* 测试报告 TIDA-00155 Test Results 2014年 2月 26日
应用手册 Flexible Trade-offs in Maximizing SNR and Res. in TI DLP® Tech. Based Spec. Sys. 2016年 8月 1日
应用手册 DLP Spectrometer Design Considerations 2014年 8月 21日

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