SN74HC4852
- 注入电流交叉耦合 <1mV/mA(请参阅Figure 8-1)
- 低开关间串扰
- 与 SN74HC4052、SN74LV4052A 和 CD4052B 引脚兼容
- 2V 至 5.5V VCC 运行
- 闩锁性能超过 100mA,符合 JESD 78 II 类规范的要求
这款双路 4 线至 1 线 CMOS 模拟多路复用器/多路解复用器与 4052 功能引脚兼容,并且还具有注入电流效应控制功能。此控制功能在电压通常超过正常电源电压的汽车应用中具有出色的价值。
注入电流效应控制功能允许已禁用的模拟输入通道上的信号超过电源电压,而不会影响已启用的模拟通道的信号。这样就不再需要通常使用的外部二极管/电阻器网络将模拟通道信号保持在电源电压范围内。
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|---|---|---|---|---|---|---|
| * | 数据表 | SN74HC4852 具有注入电流效应控制功能的双通道 4 线至 1 线模拟多路复用器/多路解复用器 数据表 (Rev. A) | PDF | HTML | 英语版 (Rev.A) | PDF | HTML | 2024-6-1 |
| 应用手册 | 选择正确的德州仪器 (TI) 信号开关 (Rev. E) | PDF | HTML | 英语版 (Rev.E) | PDF | HTML | 2022-8-5 | |
| 应用手册 | 多路复用器和信号开关词汇表 (Rev. B) | 英语版 (Rev.B) | PDF | HTML | 2022-3-11 | ||
| 应用简报 | TMUX13xx-Q1 and SN74HC485x-Q1 Analog Multiplexer Injection Current Control (Rev. D) | 2020-4-6 |
设计与开发
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接口适配器
LEADED-ADAPTER1 — 表面贴装转 DIP 接头适配器,用于快速测试 TI 的 5、8、10、16 和 24 引脚引线式封装。
EVM-LEADED1 电路板可用于对 TI 的常见引线式封装进行快速测试和电路板试验。 该电路板具有足够的空间,可将 TI 的 D、DBQ、DCT、DCU、DDF、DGS、DGV 和 PW 表面贴装封装转换为 100mil DIP 接头。
用户指南:
PDF
| 封装 | 引脚 | CAD 符号、封装和 3D 模型 |
|---|---|---|
| TSSOP (PW) | 16 | Ultra Librarian |
| SOIC (D) | 16 | Ultra Librarian |
| PDIP (N) | 16 | Ultra Librarian |
| TVSOP (DGV) | 16 | Ultra Librarian |
订购和质量
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