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SN54SC1G175-SEP

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Radiation-tolerant, single flip-flop with clear

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产品详情

Number of channels 1 Technology family SCxT Input type CMOS Output type Push-Pull IOL (max) (mA) 32 IOH (max) (mA) -32 Supply current (max) (µA) 10 Features Partial power down (Ioff), Ultra high speed (tpd <5ns) Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Space
Number of channels 1 Technology family SCxT Input type CMOS Output type Push-Pull IOL (max) (mA) 32 IOH (max) (mA) -32 Supply current (max) (µA) 10 Features Partial power down (Ioff), Ultra high speed (tpd <5ns) Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Space
SOT-23 (DBV) 6 8.12 mm² (2.9 mm × 2.8 mm)
  • VID V62/26610
  • 辐射 - 总电离剂量 (TID)：
    • TID 特征值高达 50krad (Si)
    • TID 性能保证高达 30krad(Si)
    • 每个晶圆批次的辐射批次验收测试 (RLAT) 高达 30krad(Si)
  • 辐射 - 单粒子效应 (SEE)：
    • 在 125°C 下，单粒子锁定 (SEL) 抗扰度高达 50MeV-cm2/mg
    • 单粒子瞬变 (SET) 额定值高达 LET = 50MeV-cm2/mg

  • 1.2V 至 5.5V 的宽工作电压范围

  • 5.5V 容限输入引脚
  • 支持标准引脚排列
  • 速率高达 150Mbps，具有 5V 或 3.3V VCC
  • 闩锁性能超过 100mA，符合 JESD 78 规范
  • 增强型航天塑料：
    • 支持国防与航空航天应用
    • 受控基线
    • Au 键合线和 NiPdAu 铅涂层
    • 符合 NASA ASTM E595 释气规格要求
    • 制造、封装测试一体化基地
    • 延长了产品生命周期
    • 产品可追溯性
  • VID V62/26610
  • 辐射 - 总电离剂量 (TID)：
    • TID 特征值高达 50krad (Si)
    • TID 性能保证高达 30krad(Si)
    • 每个晶圆批次的辐射批次验收测试 (RLAT) 高达 30krad(Si)
  • 辐射 - 单粒子效应 (SEE)：
    • 在 125°C 下，单粒子锁定 (SEL) 抗扰度高达 50MeV-cm2/mg
    • 单粒子瞬变 (SET) 额定值高达 LET = 50MeV-cm2/mg

  • 1.2V 至 5.5V 的宽工作电压范围

  • 5.5V 容限输入引脚
  • 支持标准引脚排列
  • 速率高达 150Mbps，具有 5V 或 3.3V VCC
  • 闩锁性能超过 100mA，符合 JESD 78 规范
  • 增强型航天塑料：
    • 支持国防与航空航天应用
    • 受控基线
    • Au 键合线和 NiPdAu 铅涂层
    • 符合 NASA ASTM E595 释气规格要求
    • 制造、封装测试一体化基地
    • 延长了产品生命周期
    • 产品可追溯性

SN54SC1G175-SEP 器件是一款单路 D 型触发器，具有异步清零 (CLR) 输入。CLR 为高电平时，输入引脚 (D) 上的数据将在时钟 (CLK) 的上升沿传输到输出引脚 (Q)。CLR 为低电平时，将强制 Q 进入低电平状态，而不受时钟边沿和 D 引脚数据的影响。

SN54SC1G175-SEP 器件是一款单路 D 型触发器，具有异步清零 (CLR) 输入。CLR 为高电平时，输入引脚 (D) 上的数据将在时钟 (CLK) 的上升沿传输到输出引脚 (Q)。CLR 为低电平时，将强制 Q 进入低电平状态，而不受时钟边沿和 D 引脚数据的影响。
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* 数据表 具有异步清零功能的 SN54SC1G175-SEP 单路 D 型触发器 PDF | HTML PDF | HTML 2026-1-26
* 辐射与可靠性报告 SN54SC1G175-SEP Total Ionizing Dose (TID) Report 2026-2-6
* 辐射与可靠性报告 SN54SC1G175-SEP Single-Event Effects (SEE) Radiation Report PDF | HTML 2026-2-6
* 辐射与可靠性报告 SN54SC1G175-SEP Production Flow and Reliability Report PDF | HTML 2026-2-6

设计与开发

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评估板

5-8-LOGIC-EVM — 支持 5 至 8 引脚 DCK、DCT、DCU、DRL 和 DBV 封装的通用逻辑评估模块

灵活的 EVM 设计用于支持具有 5 至 8 引脚数且采用 DCK、DCT、DCU、DRL 或 DBV 封装的任何器件。
用户指南: PDF
支持的产品和硬件
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??asset.out-of-stock-ti_zh_CN??
无货
封装 引脚 CAD 符号、封装和 3D 模型
SOT-23 (DBV) 6 Ultra Librarian
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