SN54AC00-SP

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Radiation-hardened, QML-V, 4-ch, 2-input, 2V to 6V NAND gates

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Technology family AC Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family AC Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125
CFP (W) 14 58.023 mm² (— mm × — mm) CDIP (J) 14 130.4652 mm² (— mm × — mm) DIESALE (KGD) See data sheet mm² (— mm × — mm)
  • 5962R87549:
    • 抗辐射加固保障 (RHA) 高达 100 krad (Si) 总电离剂量 (TID)
    • SEL 抗扰度为 86 MeV×cm2/mg
  • 5962-87549:
    • 总电离剂量为 50 krad (Si)
  • 2 V 至 6 V VCC 运行
  • 输入电压高达 6 V
  • 5V 时 tpd 最大值为 7 ns
  • 5962R87549:
    • 抗辐射加固保障 (RHA) 高达 100 krad (Si) 总电离剂量 (TID)
    • SEL 抗扰度为 86 MeV×cm2/mg
  • 5962-87549:
    • 总电离剂量为 50 krad (Si)
  • 2 V 至 6 V VCC 运行
  • 输入电压高达 6 V
  • 5V 时 tpd 最大值为 7 ns

SN54AC00 器件包含四个独立双输入与非门。每个逻辑门以正逻辑执行布尔函数 Y = A • B 或 Y = A + B

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SN54AC00 器件包含四个独立双输入与非门。每个逻辑门以正逻辑执行布尔函数 Y = A • B 或 Y = A + B

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* 数据表 SN54AC00-SP 抗辐射加固型四路 2 输入与非门 数据表 (Rev. C) PDF | HTML 英语版 (Rev.C) PDF | HTML 2022-5-24
* 辐射与可靠性报告 54AC00-SP Radiation Assured Devices 2016-4-21
* SMD SN54AC00-SP SMD 5962-87549 2016-7-8

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