SN54AC00-SP
- 5962R87549:
- 抗辐射加固保障 (RHA) 高达 100 krad (Si) 总电离剂量 (TID)
- SEL 抗扰度为 86 MeV×cm2/mg
- 5962-87549:
- 总电离剂量为 50 krad (Si)
- 2 V 至 6 V VCC 运行
- 输入电压高达 6 V
- 5V 时 tpd 最大值为 7 ns
SN54AC00 器件包含四个独立双输入与非门。每个逻辑门以正逻辑执行布尔函数 Y = A • B 或 Y = A + B。
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| 顶层文档 | 类型 | 标题 | 格式选项 | 下载最新的英语版本 | 日期 | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | 数据表 | SN54AC00-SP 抗辐射加固型四路 2 输入与非门 数据表 (Rev. C) | PDF | HTML | 英语版 (Rev.C) | PDF | HTML | 2022-5-24 |
| * | 辐射与可靠性报告 | 54AC00-SP Radiation Assured Devices | 2016-4-21 | |||
| * | SMD | SN54AC00-SP SMD 5962-87549 | 2016-7-8 |