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비교 대상 장치와 동일한 기능을 지원하는 핀 대 핀.
UCC21530-Q1
- AEC-Q100 qualified with:
- Device temperature grade 1
- Functional Safety Quality-Managed
- Universal: dual low-side, dual high-side or half-bridge driver
- Wide body SOIC-14 (DWK) package
- 3.3mm spacing between driver channels
- Switching parameters:
- 33ns typical propagation delay
- 20ns minimum pulse width
- 6ns maximum pulse-width distortion
- Common-mode transient immunity (CMTI) greater than 125V/ns
- 4A peak source, 6A peak sink output
- TTL and CMOS compatible inputs
- 3V to 18V input VCCI range
- Up to 25V VDD output drive supply
- 8V,12V and 17V VDD UVLO options
- Programmable overlap and dead time
- Junction temperature range –40 to +150°C
The UCC21530-Q1 is an isolated dual-channel gate driver with 4A source and 6A sink peak current. It is designed to drive IGBTs, Si MOSFETs, and SiC MOSFETs up to 5MHz.
The input side is isolated from the two output drivers by a 5.7kVRMS reinforced isolation barrier, with a minimum of 125V/ns common-mode transient immunity (CMTI). Internal functional isolation between the two secondary-side drivers allows a working voltage of up to 1850V.
This device can be configured as two low-side drivers, two high-side drivers, or a half-bridge driver with programmable dead time (DT). The EN pin pulled low shuts down both outputs simultaneously and allows for normal operation when left open or pulled high. As a fail-safe measure, primary-side logic failures force both outputs low.
The device accepts VDD supply voltages up to 25V. A wide input VCCI range from 3V to 18V makes the driver suitable for interfacing with both analog and digital controllers. All the supply voltage pins have under voltage lock-out (UVLO) protection.
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기술 자료
| 상위 문서 | 유형 | 직함 | 형식 옵션 | 최신 영어 버전 다운로드 | 날짜 |
|---|---|---|---|---|---|
| * | 데이터 시트 | UCC21530-Q1 4A, 6A, 5.7kVRMS Isolated Dual-Channel Gate Driver with 3.3mm Channel-to-Channel Spacing datasheet (Rev. F) | PDF | HTML | 2024. 9. 17 | |
| 인증서 | VDE Certificate for Reinforced Isolation for DIN EN IEC 60747-17 (Rev. AB) | 2026. 7. 15 | |||
| 백서 | 신뢰할 수 있는 합리적 가격대의 절 연 기술 개발과 관련한 고전압 설계 문제의 해결 | PDF | HTML | 2026. 5. 28 | ||
| 인증서 | UL Certification E181974 Vol 4. Sec 7 (Rev. D) | 2025. 9. 8 | |||
| 애플리케이션 노트 | Impact of Narrow Pulse Widths in Gate Driver Circuits (Rev. A) | PDF | HTML | 2024. 1. 25 | ||
| 인증서 | UCC21540 CQC Certificate of Product Certification | PDF | HTML | 2023. 8. 17 | ||
| 인증서 | UCC215xx CQC Certificate of Product Certification | PDF | HTML | 2023. 8. 17 | ||
| Application brief | The Use and Benefits of Ferrite Beads in Gate Drive Circuits | PDF | HTML | 2021. 12. 16 | ||
| 인증서 | CSA Product Certificate (Rev. A) | 2019. 8. 15 | |||
| 기술 문서 | Searching for the newest innovations in power? Find them at APEC | PDF | HTML | 2019. 2. 9 |
설계 및 개발
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