产品详情

Configuration 2:1 SPDT Number of channels 4 Power supply voltage - single (V) 2.5, 3.3 Protocols Analog, I2C, I2S, JTAG, RGMII, SPI, TDM, UART Ron (typ) (Ω) 5 ON-state leakage current (max) (µA) 1 Bandwidth (MHz) 200 Operating temperature range (°C) -55 to 125 Features Powered-off protection Input/output continuous current (max) (mA) 128 Rating HiRel Enhanced Product Drain supply voltage (max) (V) 3.6 Supply voltage (max) (V) 3.6
Configuration 2:1 SPDT Number of channels 4 Power supply voltage - single (V) 2.5, 3.3 Protocols Analog, I2C, I2S, JTAG, RGMII, SPI, TDM, UART Ron (typ) (Ω) 5 ON-state leakage current (max) (µA) 1 Bandwidth (MHz) 200 Operating temperature range (°C) -55 to 125 Features Powered-off protection Input/output continuous current (max) (mA) 128 Rating HiRel Enhanced Product Drain supply voltage (max) (V) 3.6 Supply voltage (max) (V) 3.6
TSSOP (PW) 16 32 mm² 5 x 6.4
  • 受控基线
    • 一个组装地点
    • 一个测试地点
    • 一个制造地点
  • 更宽泛的工作温度范围 -55°C 至 125°C
  • 为制造资源减少 (DMS) 提供增强型支持
  • 改进了产品变更通知
  • 资质谱系 (1)
  • 两个端口间使用 5Ω 开关连接
  • 支持在数据 I/O 端口进行轨至轨开关
  • Ioff 支持局部断电模式运行
  • 闩锁性能超过 100mA,符合 JESD 78 II 类规范
  • ESD 保护性能超过 JESD 22 规范要求
    • 2000V 人体模型 (A114-A)
    • 200V 机器模型 (A115-A)

(1)组件资质符合 JEDEC 和行业标准,确保在更宽泛的工作温度范围内可靠运行。这包括但不限于高加速应力测试 (HAST) 或偏压 85/85、温度循环、热压器或无偏压 HAST、电迁移、金属间键合寿命和模塑化合物寿命。这些资质测试不能作为在超出额定性能和环境限制的条件下使用此组件的依据。

  • 受控基线
    • 一个组装地点
    • 一个测试地点
    • 一个制造地点
  • 更宽泛的工作温度范围 -55°C 至 125°C
  • 为制造资源减少 (DMS) 提供增强型支持
  • 改进了产品变更通知
  • 资质谱系 (1)
  • 两个端口间使用 5Ω 开关连接
  • 支持在数据 I/O 端口进行轨至轨开关
  • Ioff 支持局部断电模式运行
  • 闩锁性能超过 100mA,符合 JESD 78 II 类规范
  • ESD 保护性能超过 JESD 22 规范要求
    • 2000V 人体模型 (A114-A)
    • 200V 机器模型 (A115-A)

(1)组件资质符合 JEDEC 和行业标准,确保在更宽泛的工作温度范围内可靠运行。这包括但不限于高加速应力测试 (HAST) 或偏压 85/85、温度循环、热压器或无偏压 HAST、电迁移、金属间键合寿命和模塑化合物寿命。这些资质测试不能作为在超出额定性能和环境限制的条件下使用此组件的依据。

SN74CBTLV3257 是一款 4 位 2 选 1 高速 FET 多路复用器/多路信号分离器。此开关具有低通态电阻,可以在最短传播延迟情况下建立连接。

选择 (S) 输入控制数据流。当输出使能 (OE) 输入为高电平时,FET 多路复用器/多路解复用器被禁用。

该器件完全 适用于 Ioff 为了部分断电的应用。Ioff 特性可确保在关断时防止损坏电流通过器件回流。该器件可在关断时提供隔离。

为了确保加电或断电期间的高阻抗状态,OE 应通过一个上拉电阻器被连接至 VCC;该电阻器的最小值由驱动器的电流吸入能力来决定。

SN74CBTLV3257 是一款 4 位 2 选 1 高速 FET 多路复用器/多路信号分离器。此开关具有低通态电阻,可以在最短传播延迟情况下建立连接。

选择 (S) 输入控制数据流。当输出使能 (OE) 输入为高电平时,FET 多路复用器/多路解复用器被禁用。

该器件完全 适用于 Ioff 为了部分断电的应用。Ioff 特性可确保在关断时防止损坏电流通过器件回流。该器件可在关断时提供隔离。

为了确保加电或断电期间的高阻抗状态,OE 应通过一个上拉电阻器被连接至 VCC;该电阻器的最小值由驱动器的电流吸入能力来决定。

下载 观看带字幕的视频 视频

技术文档

star =有关此产品的 TI 精选热门文档
未找到结果。请清除搜索并重试。
查看全部 20
类型 标题 下载最新的英语版本 日期
* 数据表 SN74CBTLV3257-EP 低电压 4 位 2 选 1 FET 多路复用器/多路信号分离器 数据表 (Rev. A) PDF | HTML 英语版 (Rev.A) PDF | HTML 2019年 8月 12日
* VID SN74CBTLV3257-EP VID V6208615 2016年 6月 21日
应用手册 选择正确的德州仪器 (TI) 信号开关 (Rev. E) PDF | HTML 英语版 (Rev.E) PDF | HTML 2022年 8月 5日
应用手册 多路复用器和信号开关词汇表 (Rev. B) 英语版 (Rev.B) PDF | HTML 2022年 3月 11日
选择指南 Little Logic Guide 2018 (Rev. G) 2018年 7月 6日
选择指南 Logic Guide (Rev. AB) 2017年 6月 12日
应用手册 How to Select Little Logic (Rev. A) 2016年 7月 26日
应用手册 Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015年 12月 2日
选择指南 逻辑器件指南 2014 (Rev. AA) 最新英语版本 (Rev.AB) 2014年 11月 17日
选择指南 小尺寸逻辑器件指南 (Rev. E) 最新英语版本 (Rev.G) 2012年 7月 16日
用户指南 LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007年 1月 16日
更多文献资料 Digital Bus Switch Selection Guide (Rev. A) 2004年 11月 10日
产品概述 Design Summary for WCSP Little Logic (Rev. B) 2004年 11月 4日
应用手册 Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004年 7月 8日
用户指南 Signal Switch Data Book (Rev. A) 2003年 11月 14日
应用手册 Bus FET Switch Solutions for Live Insertion Applications 2003年 2月 7日
应用手册 Texas Instruments Little Logic Application Report 2002年 11月 1日
应用手册 TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 2002年 8月 29日
更多文献资料 Standard Linear & Logic for PCs, Servers & Motherboards 2002年 6月 13日
用户指南 CBT (5-V) And CBTLV (3.3-V) Bus Switches Data Book (Rev. B) 1998年 12月 1日

设计和开发

如需其他信息或资源,请点击以下任一标题进入详情页面查看(如有)。

封装 引脚 下载
TSSOP (PW) 16 查看选项

订购和质量

包含信息:
  • RoHS
  • REACH
  • 器件标识
  • 引脚镀层/焊球材料
  • MSL 等级/回流焊峰值温度
  • MTBF/时基故障估算
  • 材料成分
  • 鉴定摘要
  • 持续可靠性监测
包含信息:
  • 制造厂地点
  • 封装厂地点

推荐产品可能包含与 TI 此产品相关的参数、评估模块或参考设计。

支持和培训

视频