CD4053B-Q1
- 符合面向汽车应用的 AEC-Q100 标准
- 温度等级 1:–45°C 至 +125°C,TA
- 宽数字和模拟信号电平范围
- 数字:3V 至 20V
- 模拟:≤ 20VP-P
- 在 VDD – VEE = 18V 时的 15 VP-P信号输入范围内,具有 125Ω(典型值)的低导通电阻
- 高关断电阻,VDD – VEE = 18V 时,信道泄漏为
±100pA(典型值) - 适用于 3V 至 20V 数字寻址信号(VDD – VSS = 3V 至 20V)的逻辑电平转换功能,可将模拟信号切换至与 20 VP-P (VDD – VEE = 20V) 相匹配的开关特性,VDD – VEE = 15V 时,rON = 5Ω(典型值),在所有数字控制输入和电源条件下,具有极低的静态功率损耗,在
VDD – VSS = VDD – VEE = 10V 时,功率损耗为 0.2µW(典型值) - 二进制地址片上解码
- 5V、10V 和 15V 参数额定值
- 在 20V 静态电流下经过 100% 测试
- 在全封装温度范围内,18V 时的最大输入电流为 1µA,18V 和 25°C 时为 100nA
- 先断后合开关消除了通道重叠
CD405xB-Q1 模拟多路复用器和多路解复用器是数字控制的模拟开关,具有低接通阻抗和极低的关断泄漏电流。这些多路复用器电路在整个 VDD – VSS 和 VDD – VEE 电源电压范围内,消耗的静态功率极低,而不受控制信号的逻辑状态影响。
技术文档
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* | 数据表 | 具有逻辑电平转换功能的 CD405xB-Q1 CMOS 单路 8 通道模拟多路复用器/多路解复用器 数据表 (Rev. B) | PDF | HTML | 下载最新的英文版本 (Rev.C) | PDF | HTML | 2019年 7月 24日 |
更多文献资料 | 选择正确的德州仪器 (TI) 信号开关 (Rev. E) | PDF | HTML | 下载英文版本 (Rev.E) | PDF | HTML | 2022年 8月 5日 | |
更多文献资料 | 多路复用器和信号开关词汇表 (Rev. B) | 下载英文版本 (Rev.B) | PDF | HTML | 2022年 3月 11日 | ||
选择指南 | Logic Guide (Rev. AB) | 2017年 6月 12日 | ||||
更多文献资料 | Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) | 2015年 12月 2日 | ||||
选择指南 | 逻辑器件指南 2014 (Rev. AA) | 下载最新的英文版本 (Rev.AB) | 2014年 11月 17日 | |||
更多文献资料 | 汽车逻辑器件 | 下载英文版本 | 2014年 2月 5日 | |||
用户指南 | LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) | 2007年 1月 16日 | ||||
更多文献资料 | Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection | 2004年 7月 8日 | ||||
用户指南 | Signal Switch Data Book (Rev. A) | 2003年 11月 14日 | ||||
更多文献资料 | Understanding Buffered and Unbuffered CD4xxxB Series Device Characteristics | 2001年 12月 3日 |
设计和开发
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接口适配器
LEADED-ADAPTER1 — 用于快速测试 TI 5、8、10、16 和 24 引脚引线式封装的表面贴装转 DIP 接头适配器
EVM-LEADED1 板可对 TI 的常见引线式封装进行快速测试和电路板试验。该评估板具有足够的空间,可将 TI 的 D、DBQ、DCT、DCU、DDF、DGS、DGV 和 PW 表面贴装封装转换为 100mil DIP 接头。
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封装 | 引脚数 | 下载 |
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SOIC (D) | 16 | 了解详情 |
订购和质量
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