ZHCUB28 may   2023 LM74703-Q1 , LM74704-Q1

 

  1.   1
  2.   说明
  3.   特性
  4.   应用
  5.   5
  6. 1评估模块概述
    1. 1.1 引言
    2. 1.2 套件内容
    3. 1.3 规格
    4. 1.4 器件信息
  7. 2硬件
    1. 2.1 设置
      1. 2.1.1 I/O 连接器、跳线和测试点说明
      2. 2.1.2 电路板设置
    2. 2.2 操作
      1. 2.2.1 启动
      2. 2.2.2 FET 状态检测测试
  8. 3硬件设计文件
    1. 3.1 原理图
    2. 3.2 PCB 制图
    3. 3.3 物料清单
  9. 4其他信息
    1.     商标

2.2.2 FET 状态检测测试

要在启动时发生外部 FET 短路情况下捕获器件 FET_GOOD 引脚行为，请执行以下操作：

  1. 在 TP1 和 TP2 之间连接一根导线以仿真 FET 短路行为。
  2. 将输入电源电压 VIN 设置为 12V，将电流限制设置为 5 A。
  3. 在使用 LM74704-Q1 进行测试时，验证是否已组装跳线 J5，该跳线会将板上生成的上拉电压连接到 FET_GOOD 信号。
    1. 为了使用外部上拉电压进行测试，请拆除 J5 跳线并将外部上拉电压施加到 TP3 (FET_GOOD)。
  4. 使用 LM74703-Q1 进行测试时，请验证跳线 J5 是否已拆除，因为 LM74703-Q1 具有 FET_GOOD 的推挽输出，并且不需要外部上拉电压。
  5. 打开电源。
  6. 观察 VIN、VOUT、GATE 和 FET_GOOD 的启动曲线。

图 3-4 显示了启动期间发生 FET 短路时的 LM74704-Q1 启动行为。

GUID-20230511-SS0I-QWDX-VTTV-WWXGMVXBJX3G-low.png图 2-4 启动期间发生 FET 短路时的 FET_GOOD (LM74704-Q1)，带有外部上拉电压

图 3-5 显示了启动期间发生 FET 短路时的 LM74703-Q1 行为。

GUID-20230511-SS0I-XDGM-6ZDG-V9MQ8JXMG6MF-low.png图 2-5 启动期间发生 FET 短路时的 FETGOOD (LM74703-Q1)