ZHCU929A December   2022  – April 2026

 

  1.   1
  2.   说明
  3.   资源
  4.   特性
  5.   应用
  6.   6
  7. 1系统说明
    1. 1.1 主要系统规格
  8. 2系统概述
    1. 2.1 方框图
    2. 2.2 系统设计原理
      1. 2.2.1 检测原理
      2. 2.2.2 饱和区
      3. 2.2.3 常规工作模式
    3. 2.3 重点产品
      1. 2.3.1 DRV8220
      2. 2.3.2 TLV7011
      3. 2.3.3 INA293
      4. 2.3.4 SN74LVC1G74
      5. 2.3.5 OPAx383
      6. 2.3.6 INA600
      7. 2.3.7 TLV9022L
      8. 2.3.8 TLV431B
  9. 3硬件、测试要求和测试结果
    1. 3.1 硬件
      1. 3.1.1  电路板概述
      2. 3.1.2  滤波器级
      3. 3.1.3  差分至单端转换器
      4. 3.1.4  低通滤波器
      5. 3.1.5  自振电路
      6. 3.1.6  DRV8220 H 桥
      7. 3.1.7  饱和检测电路
      8. 3.1.8  由 DFF 控制的 H 桥
      9. 3.1.9  放弃计时器采集
      10. 3.1.10 磁通门传感器
    2. 3.2 测试设置
      1. 3.2.1 接地故障模拟
    3. 3.3 测试结果
      1. 3.3.1 温度范围内的线性度
    4. 3.4 故障响应结果
  10. 4设计和文档支持
    1. 4.1 设计文件
      1. 4.1.1 原理图
      2. 4.1.2 物料清单
    2. 4.2 文档支持
    3. 4.3 支持资源
    4. 4.4 商标
  11. 5关于作者
  12. 6修订历史记录

3.1.9 放弃计时器采集

计时器采集是一种通过从自振电路读取占空比变化来读取直流故障的方法。这是 RCD 模块中的常见测量技术。在直流故障条件下，DRV8220 的占空比会随着 B-H 曲线或磁化曲线环路的变化而变化。流经磁芯的直流故障电流在一个方向上导致饱和的速度比在另一个方向上稍快。这种差异将转化为可测量的占空比变化。

这种方法对元件、振荡器和磁芯中的噪声很敏感。这种方法需要更昂贵的元件、具有更短的延迟和更快的 MCU 时钟速度。占空比变化存在很大的不一致性，具体取决于所用的磁芯。在许多情况下，由噪声引起的抖动会使信号闪烁，从而导致误跳变。

通过从窗口比较器读取数字故障输出，或使用 ADC 读取模拟信号，可降低 BoM 成本，并在更广泛的磁通门传感器材料类型选择范围内获得更精确的读数。