ZHCSY90A May 2025 – March 2026 TPS7H6101-SEP
PRODUCTION DATA
图 7-1 显示了在 PWM 模式下用于测量时序特性的电路配置。在 PWM 模式下,FET 配置为具有独立测试电源的“双低侧”拓扑。图 7-2 和图 7-3 显示了配置为 PWM 模式时的传播、导通和关断延迟的测量波形。
图 7-4 展示了在独立输入模式 (IIM) 下用于测量时序特性的电路配置。在 IIM 模式下,FET 配置为具有独立测试电源的“双低侧”拓扑。图 7-5 和图 7-6 显示了配置为 IIM 时的传播、导通和关断延迟的测量波形。