ZHCSXJ2A September   2024  – March 2025 REF80

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特性
  3. 2 应用
  4. 3 说明
  5. 4 器件比较表
  6. 5 引脚配置和功能
  7. 6 规格
    1. 6.1 绝对最大额定值
    2. 6.2 ESD 等级
    3. 6.3 热性能信息
    4. 6.4 建议运行条件
    5. 6.5 电气特性
    6. 6.6 典型特性
  8. 7 详细说明
    1. 7.1 概述
    2. 7.2 功能方框图
    3. 7.3 特性说明
      1. 7.3.1 加热器
      2. 7.3.2 埋入式齐纳基准
  9. 8 参数测量信息
    1. 8.1 长期稳定性
    2. 8.2 温漂
    3. 8.3 热迟滞
    4. 8.4 噪声性能
      1. 8.4.1 1/f 噪声
      2. 8.4.2 宽带噪声
  10. 9 应用和实施
    1. 9.1 应用信息
    2. 9.2 典型应用
      1. 9.2.1 典型应用：基本基准电压连接
        1. 9.2.1.1 设计要求
        2. 9.2.1.2 详细设计过程
        3. 9.2.1.3 应用曲线
      2. 9.2.2 典型应用电路
        1. 9.2.2.1 精密分压器连接
        2. 9.2.2.2 校准信号
    3. 9.3 电源相关建议
    4. 9.4 布局
      1. 9.4.1 布局指南
      2. 9.4.2 布局示例
  11. 10器件和文档支持
    1. 10.1 文档支持
      1. 10.1.1 相关文档
    2. 10.2 接收文档更新通知
    3. 10.3 支持资源
    4. 10.4 商标
    5. 10.5 静电放电警告
    6. 10.6 术语表
  12. 11修订历史记录
  13. 12机械、封装和可订购信息

8.1 长期稳定性

埋入式齐纳基准通常具有非常高的长期稳定性，从而用作系统内部校准的超稳定基准。长期稳定性值在典型设置下进行测试，该设置反映了器件周围应变调制结构基准的标准 PCB 电路板制造实践。电路板采用标准 FR4 材料制成，覆铜厚度为 35µm。器件已通过标准回流进行焊接。

长期稳定性设置经过精心设计，以最大限度地减小热电偶误差、应变和机械振动对长期稳定性测量的影响。电路板放置在空气流动烤箱中，温度保持在 25°C，加热器温度在通电状态下设置为 115°C，以进行长期稳定性测量。

典型的长期稳定性特性表示为一段时间内的偏差。图 8-1 展示了 VREF_Z 在 0 到 1000 小时内的典型漂移值为 3ppm。REF80 的漂移在 1000 小时后趋于稳定。室温下的上电老化有助于 REF80 实现最佳的长期稳定性能。

下电上电对 VREF_Z 的稳定性影响极小，不会改变已稳定的曲线。图 8-2 显示了器件断电 24 小时后的输出行为。

REF80 长期稳定性(VREF_Z)图 8-1 长期稳定性(VREF_Z)
REF80 下电上电迟滞图 8-2 下电上电迟滞