9 修订历史记录
Date Letter Revision History Changes Intro HTMLB (April 2024)to RevisionC (January 2026)
- 在“描述”部分中添加了带宽 –3dB 的不同制造工艺规格Go
- 在规格中添加了器件流程信息的说明Go
- 在“电气特性”中添加了偏移电压的不同制造过程规格Go
- 向“电气特性”中的典型测试条件添加了所有芯片原产地 (CSO) 条件Go
- 在“电气特性”中添加了偏移电压漂移的不同制造过程规格Go
- 在“电气特性”中为共模电压抑制添加了不同的制造过程规范Go
- 在“电气特性”中为共模输入阻抗添加了不同的制造过程规范Go
- 在“电气特性”中为增益非线性添加了不同制造过程规格Go
- 在“电气特性”中添加了输出电压的不同制造过程规格Go
- 在“电气特性”中添加了负载电容的不同制造过程规格Go
- 在“电气特性”中添加了短路电流的不同制造过程规格Go
- 在电气特性 中添加了带宽 –3dB 的不同制造工艺规格Go
- 在“电气特性”中添加了全功率带宽的不同制造过程规格Go
- 在“电气特性”中添加了转换率的不同制造过程规格Go
- 向“电气特性”中添加了静态电流的不同制造过程规格Go
- 在“典型特性”中添加了典型测试条件Go
- 向“典型特性”中的典型测试条件添加了所有芯片原产地 (CSO) 条件Go
- 添加了 CSO:SHE,添加至“典型特性”中的共模抑制与频率间的关系、电源抑制与频率间的关系、正共模电压范围与正电源电压间的关系、负共模电压范围与负电源电压间的关系、小信号阶跃响应和大信号阶跃响应曲线Go
- 添加了共模抑制与频率间的关系、正电源抑制与频率间的关系、负电源抑制与频率间的关系、
共模电压范围与电源电压间的关系
、小信号阶跃响应、小信号阶跃响应与容性负载间的关系以及大信号阶跃响应曲线,添加至 CSO: 以及输出电压摆幅与输出电流(灌电流)间的关系
Go
- 向器件命名规则添加了器件型号流程信息表Go
Date Letter Revision History Changes Intro HTMLA (November 2000)to RevisionB (April 2024)
- 更新了整个文档中的表格、图和交叉参考的格式Go
- 通篇删除了有关 INA117AM 和 INA117SM 型号的信息Go
- 在说明 及引脚配置和功能 部分中将引脚 8 从“Comp”更改为“NC”Go
- 向说明 部分添加了封装信息 表Go
- 添加了引脚功能表Go
- 添加了“ESD 等级”表Go
- 在建议运行条件中添加了单电源规格Go
- 在建议运行条件中添加了指定的温度范围Go
- 为清晰起见,在“电气特性”和“典型特性”部分中将“VREF = 0V,VCM = VS/2 和 G = 1”添加到“除非另有说明”条件中Go
- 将“电气特性”中的参数从“偏移电压与温度间的关系”更改为“偏移电压漂移”Go
- 在“电气特性”中为“偏移电压漂移”添加了“TA = –40°C 至 +85°C”的测试条件Go
- 将“电气特性”中的参数从“偏移电压与电源间的关系”更改为“电源抑制比”Go
- 在“电气特性”中为“CMRR”添加了测试条件“TA = -40℃ 至 +85℃”Go
- 将“电气特性”中的“共模输入阻抗”典型值从 400kΩ 更改为 200kΩGo
- 在“电气特性”的“增益误差与温度间的关系”中,新增了“TA = –40°C 至 +85°C”的测试条件,并为了更清晰地表达,将其更名为“增益误差漂移”Go
- 将“电气特性”中的“增益非线性”典型值从 0.0002% 更改为 0.0005%Go
- 为清晰起见,在“电气特性”的短路电流规格中添加了测试条件“持续至 VS/2”Go
- 将“电气特性”中的最低转换率从 2V/μs 更改为 1.7V/μsGo
- 删除了电气特性 中冗余的电压范围、工作温度范围和规格温度范围规范Go
- 删除了降低差分增益应用电路图Go
- 添加了文档支持 和相关文档 部分Go