ZHCSUJ6A February 2025 – December 2025 LMG3650R025
PRODMIX
驱动器可检测两种类型的电流故障:过流及短路。
过流保护 (OCP) 电路可监测漏极电流,并将该电流信号与内部设定的限值 IT(OC) 进行比较。检测到过流时,LMG365xR025 会执行逐周期保护,如逐周期过流保护操作所示。在此模式下,当漏极电流超过 IT(OC) 加上延迟 toff(OC) 时,GaN 器件关断,但过流信号在 IN 引脚信号变为低电平后清除。
在下一个周期中,GaN 器件正常导通。如果稳态运行电流低于 OCP 电平,但瞬态响应仍可以达到电流限制,而电路运行无法暂停,则可以使用逐周期功能。逐周期功能还可防止 GaN 器件因过流引起的导通损耗而过热。此外,OCP 水平随结温动态调整,内部设定的限值 IT(OC) 在较低温度下较高,并随着温度的升高而降低,如规格中所述,基于方程式 3。动态调节允许客户用较高的电流在较低温度下运行器件。
短路保护基于饱和度检测 (de-sat),它监测漏源电压 VDS,并将电压与内部设置的限值 VT(Idsat) 进行比较。饱和会损坏 GaN,如果继续在这种条件下运行,会导致故障。如果检测到饱和,GaN 器件会被锁闭。在高电流下关断器件会导致明显电压过冲。因此,当从饱和状态关闭时,设备会通过故意减速的驱动器关闭,以在关闭事件期间实现较低的过冲电压和振铃。即使在硬短路情况下,这种快速响应电路也有助于保护 GaN 器件。在这种保护中,GaN 器件会关闭并保持关断状态,直到通过将 IN 引脚保持在低电平一段时间(在 规格 中定义)或切断 VDD 的电源复位了故障。
出于安全考虑,OCP 允许逐周期运行,而去饱和会将器件锁存至复位。两种故障都会在 FLT/RDRV 引脚上报告。
图 图 7-4 显示了 OC 和去饱和保护的行为。在前两个周期中,会在不触发去饱和的情况下触发 OC 限制,因此会进行逐周期保护。在第三个周期中会触发 OC 限制,但在 toff(OC) 内,当 VDS 升至 VT(Idsat) 以上时,会触发去饱和保护。由于触发了去饱和保护,这会导致关断和锁存保护速度变慢。