ZHCSPB8D December   2021  – May 2026 BQ77207

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特性
  3. 2 应用
  4. 3 说明
  5. 4 器件比较表
  6. 5 引脚配置和功能
  7. 6 规格
    1. 6.1 绝对最大额定值
    2. 6.2 ESD 等级
    3. 6.3 建议运行条件
    4. 6.4 热性能信息
    5. 6.5 DC 特性
    6. 6.6 时序要求
  8. 7 详细说明
    1. 7.1 概述
    2. 7.2 功能方框图
    3. 7.3 特性说明
      1. 7.3.1 电压故障检测
      2. 7.3.2 开路故障检测
      3. 7.3.3 温度故障检测
      4. 7.3.4 振荡器运行状况检查
      5. 7.3.5 Vx 的检测正输入
      6. 7.3.6 输出驱动，COUT 和 DOUT
      7. 7.3.7 锁存功能
      8. 7.3.8 电源电压，VDD
    4. 7.4 器件功能模式
      1. 7.4.1 正常模式
      2. 7.4.2 故障模式
      3. 7.4.3 客户测试模式
  9. 8 应用和实施
    1. 8.1 应用信息
      1. 8.1.1 设计要求
      2. 8.1.2 详细设计过程
        1. 8.1.2.1 电池连接顺序
    2. 8.2 系统示例
    3. 8.3 电源相关建议
    4. 8.4 布局
      1. 8.4.1 布局指南
      2. 8.4.2 布局示例
  10. 9 器件和文档支持
    1. 9.1 第三方产品免责声明
    2. 9.2 接收文档更新通知
    3. 9.3 支持资源
    4. 9.4 商标
    5. 9.5 静电放电警告
    6. 9.6 术语表
  11. 10修订历史记录
  12. 11机械、封装和可订购信息

6.5 DC 特性

所述典型值的条件是 TA = 25°C 且 VDD = 25V，最小值/最大值的条件是 TA = –40°C 至 85°C 且 VDD = 5V 至 38.5V（除非另有说明）。
参数 测试条件 最小值 典型值 最大值 单位
过压保护 (OV)
VOV OV 检测范围 3.55 5.1 V
VOV_STEP OV 检测步骤 25 mV
VOV_HYS OV 检测迟滞 所选 OV 迟滞取决于器件型号。有关详细信息，请参阅器件选型表。 VOV - 50 mV
所选 OV 迟滞取决于器件型号。有关详细信息，请参阅器件选型表。 VOV - 100 mV
VOV_ACC OV 检测精度 TA = 25°C
 		 -10 10 mV
OV 检测精度 0°C ≤ TA ≤ 60°C
 		 -20 20 mV
OV 检测精度 -40°C ≤ TA ≤ 110°C
 		 -50 50 mV
欠压保护 (UV)
VUV UV 检测范围 1.0 3.5 V
VUV_STEP UV 检测步骤 50 mV
VUV_HYS UV 检测迟滞 所选 OV 迟滞取决于器件型号。有关详细信息，请参阅器件选型表。  VUV + 50 mV
所选 OV 迟滞取决于器件型号。有关详细信息，请参阅器件选型表。 VUV + 100 mV
VUV_ACC UV 检测精度 TA = 25°C -30 30 mV
UV 检测精度 -40 ≤ TA ≤ 110°C -50 50 mV
VUV_MIN UV 检测禁用阈值 Vn - Vn-1（其中 n = 2 至 7）和 V1 - VSS 450 500 550 mV
过热保护 (OT)
TOT OT 检测范围 可用选项：62°C、65°C、70°C、75°C、80°C、83°C 62.0 83.0 °C
ROT_EXT_NTC NTC OT 检测外部电阻 2850 Ω
2570
2195
1915
1651
1525
ROT_EXT_PTC PTC OT 检测外部电阻 111100 Ω
TOT_ACC(1) OT 检测精度 (NTC) -5 5 °C
TOT_HYS(2) OT 检测迟滞 (NTC) -10 °C
4186 Ω
3530 Ω
RTC 内部上拉电阻器 TI 出厂修整后 19.4 20 20.6 kΩ
欠温保护 (UT)
TUT UT 检测阈值 -30.0 0.0 °C
RUT_EXT_NTC NTC UT 检测外部电阻 111100 Ω
68900
42200
  26700
RUT_ACC UT 检测外部电阻精度 -2% 2%
TUT_HYS UT 检测迟滞 (NTC) 10 °C
17800 Ω
TUT_ACC(1) UT 检测精度 (NTC) -5 5 °C
开路保护 (OW)
VOW OW 检测阈值 Vn < Vn-1，其中 n = 2 至 7 -200 mV
V1 - VSS 500 mV
VOW_HYS OW 检测迟滞 Vn < Vn-1，其中 n = 1 至 7 VOW +100 mV
VOW_ACC OW 检测精度 -40℃ ≤ TA ≤ 110℃ -25 25 mV
电源和漏电流
ICC 电源电流 未检测到故障。 2 3.5 µA
ICC_FAULT 电源电流 检测到故障，COUT 高电平有效 6V 输出，DOUT 低电平有效。其他故障 20 25 µA
ICC_FAULT 电源电流 检测到故障，COUT 高电平有效 6V 输出，DOUT 低电平有效。仅 UV 故障 3 5 µA
IIN(2) Vx 引脚处的输入电流 Vn - Vn-1 和 V1 - VSS = 4V，其中 n = 2 至 7，启用开路 -0.3 0.3 µA
Vn - Vn-1 和 V1 - VSS = 4V，其中 n = 2 至 7，禁用开路 -0.1 0.1 µA
输出驱动，COUT 和 DOUT，仅限 CMOS 高电平有效版本
VOUT_AH COUT 和 DOUT 的输出驱动电压，高电平有效 6V Vn - Vn-1 或 V1 - VSS > VOV，其中 n = 2 至 7，VDD = 25V，IOH = 100µA，通过流出 COUT、DOUT 引脚的电流测得。 6 V
COUT 和 DOUT 的输出驱动电压，高电平有效 VDD VDD - VCOUT 或 VDOUT，Vn - Vn-1 或 V1 - VSS > VOV，其中 n = 2 至 7，IOH = 10µA，通过流出 COUT、DOUT 引脚的电流测得。 0 1 1.5 V
COUT 和 DOUT 的输出驱动电压，高电平有效 6V VDD - VCOUT 或 VDOUT，如果 7 个电芯中的 6 个短路，只有一个电芯保持供电且 > VOV，VDD = Vx（电芯电压），IOH = 100µA， 0 1 1.5 V
COUT 和 DOUT 的输出驱动电压，高电平有效 6V 和 VDD Vn - Vn-1 和 V1 - VSS < VOV，其中 n = 2 至 7，VDD = 25V，IOH = 100µA，通过流入引脚的电流测得 250 400 mV
ROUT_AH 内部上拉电阻器 80 100 120 kΩ
IOUT_AH_H OUT 拉电流（OV 期间） Vn - Vn-1 或 V1 - VSS > VOV，其中 n = 2 至 7，VDD = 25V，OUT = 0V。通过流出 COUT、DOUT 引脚的电流测得 6.5 mA
IOUT_AH_L OUT 灌电流（无 OV） Vn - Vn-1 和 V1 - VSS < VOV，其中 n = 2 至 7，VDD = 25V，OUT = VDD。通过流入 COUT、DOUT 引脚的电流测得 0.3 3 mA
输出驱动，COUT 和 DOUT，仅限 NCH 开漏低电平有效版本
VOUT_AL COUT 和 DOUT 的输出驱动电压，低电平有效 Vn - Vn-1 或 V1 - VSS > VOV，其中 n = 2 至 7，VDD = 25V，IOH = 100µA，通过流入 COUT、DOUT 引脚的电流测得。 250 400 mV
IOUT_AL_L OUT 拉电流（OV 期间） Vn - Vn-1 或 V1 - VSS > VOV，其中 n = 2 至 7，VDD = 25V，OUT = VDD。通过流入 COUT、DOUT 引脚的电流测得。 0.3 3 mA
IOUT_AL_H OUT 灌电流（无 OV） Vn - Vn-1 和 V1 - VSS < VOV，其中 n = 2 至 7，VDD = 25V，OUT = VDD。通过流出 COUT、DOUT 引脚的电流测得。 100 nA
(1) 通过设计保证。该精度假设外部电阻在相应温度阈值的 R_OT_EXT 值的 ±2% 范围以内。
(2) 通过设计保证