ZHCSP94D November   2021  – February 2026 BQ27Z746

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特性
  3. 2 应用
  4. 3 说明
  5. 4 引脚配置和功能
  6. 5 规格
    1. 5.1 绝对最大额定值
    2. 5.2 ESD 等级
    3. 5.3 建议运行条件
    4. 5.4 热性能信息
    5. 5.5 电气特性
      1. 5.5.1 电源电流
      2. 5.5.2 常见模拟（LDO、LFO、HFO、REF1、REF2、I-WAKE）
      3. 5.5.3 电池保护（CHG、DSG）
      4. 5.5.4 电池检测输出（BAT_SP、BAT_SN）
      5. 5.5.5 电量监测计测量（ADC、CC、温度）
      6. 5.5.6 闪存存储器
    6. 5.6 数字 I/O：直流特性
    7. 5.7 数字 I/O：计时特点
    8. 5.8 典型特性
  7. 6 详细说明
    1. 6.1 概述
    2. 6.2 功能方框图
    3. 6.3 特性说明
      1. 6.3.1  BQ27Z746 处理器
      2. 6.3.2  电池参数测量
        1. 6.3.2.1 库仑计数器 (CC) 和数字滤波器
        2. 6.3.2.2 ADC 多路复用器
        3. 6.3.2.3 模数转换器 (ADC)
        4. 6.3.2.4 内部温度传感器
        5. 6.3.2.5 外部温度传感器支持
      3. 6.3.3  电源控制
      4. 6.3.4  ENAB 引脚
      5. 6.3.5  总线通信接口
      6. 6.3.6  低频振荡器
      7. 6.3.7  高频振荡器
      8. 6.3.8  1.8V 低压降稳压器
      9. 6.3.9  内部基准电压
      10. 6.3.10 放电过流保护
      11. 6.3.11 充电过流保护
      12. 6.3.12 放电短路电流保护
      13. 6.3.13 主要保护特性
      14. 6.3.14 电池检测
      15. 6.3.15 Gas Gauging
      16. 6.3.16 零伏充电 (ZVCHG)
      17. 6.3.17 充电控制特性
      18. 6.3.18 身份验证
    4. 6.4 器件功能模式
      1. 6.4.1 终身记录特性
      2. 6.4.2 配置
        1. 6.4.2.1 以库仑为单位计
        2. 6.4.2.2 电池电压测量
        3. 6.4.2.3 自动校准
        4. 6.4.2.4 温度测量
  8. 7 应用和实施
    1. 7.1 应用信息
    2. 7.2 典型应用
      1. 7.2.1 设计要求（默认）
      2. 7.2.2 详细设计过程
        1. 7.2.2.1 更改设计参数
      3. 7.2.3 校准过程
      4. 7.2.4 监测数据更新
        1. 7.2.4.1 应用曲线
          1. 7.2.4.1.1 降低 ESD
  9. 8 电源相关建议
  10. 9 布局
    1. 9.1 布局指南
    2. 9.2 布局示例
  11. 10器件和文档支持
    1. 10.1 第三方产品免责声明
    2. 10.2 文档支持
      1. 10.2.1 相关文档
    3. 10.3 接收文档更新通知
    4. 10.4 支持资源
    5. 10.5 商标
    6. 10.6 静电放电警告
    7. 10.7 术语表
  12. 11修订历史记录
  13. 12机械、可订购和封装信息

5.7 数字 I/O：计时特点

参数 测试条件 最小值 标称值 最大值 单位
I2C 时序 - 100kHz
fSCL 时钟工作频率 SCL 占空比 = 50% 100 kHz
tHD:STA START 条件保持时间 4.0 µs
tLOW SCL 时钟的低电平周期 4.7 µs
tHIGH SCL 时钟的高电平周期 4.0 µs
tSU:STA 建立重复启动 4.7 µs
tHD:DAT 数据保持时间（SDA 输入） 0 ns
tSU:DAT 数据设置时间（SDA 输入） 250 ns
tr 时钟上升时间 10% 至 90% 1000 ns
tf 时钟下降时间 90% 至 10% 300 ns
tSU:STO 建立时间停止条件 4.0 µs
tBUF 停止和启动之间的总线空闲时间 4.7 µs
I2C 时序 – 400kHz
fSCL 时钟工作频率 SCL 占空比 = 50% 400 kHz
tHD:STA START 条件保持时间 0.6 µs
tLOW SCL 时钟的低电平周期 1.3 µs
tHIGH SCL 时钟的高电平周期 600 ns
tSU:STA 建立重复启动 600 ns
tHD:DAT 数据保持时间（SDA 输入） 0 ns
tSU:DAT 数据设置时间（SDA 输入） 100 ns
tr 时钟上升时间 10% 至 90% 300 ns
tf 时钟下降时间 90% 至 10% 300 ns
tSU:STO 建立时间停止条件 0.6 µs
tBUF 停止和启动之间的总线空闲时间 1.3 µs
HDQ 时序
tB 中断时间 190 µs
tBR 中断恢复时间 40 µs
tHW1 主机写入 1 次 主机驱动 HDQ 0.5 50 µs
tHW0 主机写入 0 次 主机驱动 HDQ 86 145 µs
tCYCH 主机到器件的周期时间 器件驱动 HDQ 190 µs
tCYCD 器件到主机的周期时间 器件驱动 HDQ 190 205 250 µs
tDW1 器件写入 1 次 器件驱动 HDQ 32 50 µs
tDW0 器件写入 0 次 器件驱动 HDQ 80 145 µs
tRSPS 器件响应时间 器件驱动 HDQ 190 950 µs
tTRND 主机周转时间 主机在器件驱动 HDQ 后驱动 HDQ 250 µs
tRISE HDQ 线上升到逻辑 1 的时间 1.8 µs
tRST HDQ 复位 器件复位前，主机将 HDQ 驱动为低电平 2.2 s
BQ27Z746 I2C 时序图 5-1 I2C 时序
BQ27Z746 HDQ 时序图 5-2 HDQ 时序