PGA300 实现了对电桥偏移、电桥跨度和电桥非线性的三阶 TC 和 NL 补偿。方程式 4 显示了 PGA300 中实现的数字温度和非线性补偿算法:
方程式 4. DAC = (h0 + h1T + h2T2 + h3T3) + (g0 + g1T + g2T2 + g3T3) × P + (n0 + n1T + n2T2 + n3T3) × P2 + (m0 + m1T + m2T2 + m3T3) × P3
其中
- DAC = DAC 输入端的数字补偿值
- hx、gx、nx 和 mx 为 EEPROM 中编程的 TC 和 NL 补偿系数
- P 为偏移和增益补偿后的压力值
- T 为偏移和增益补偿后的温度值
方程式 4 有 16 个系数,因此至少需要 16 个不同的测量点来计算唯一一组的 16 个系数。
例如,可以在四种温度和四种不同压力下进行 16 个不同的 P ADC 和 T ADC 测量:
- 必须将所有测量的 P 增益和 T 增益值设置为固定值。
- 必须在每个测量点记录 P ADC 值和 T ADC 值,以便计算 16 个系数。
- 有时在不同的温度和压力下测量 P ADC 和 T ADC 的成本可能较高。在本例中,有三种方法:
- 使用电桥模型来估算 P ADC 和 T ADC 测量值,而不是实际测量这些值。
- 使用批量建模,即在整个温度范围内对检测元件进行表征,并在校准前确定补偿方程的 TC 系数。在生产线上,在有限数量的温度和压力设定点进行测量,并相应地调整系数。在 E2E 社区与 TI 应用工程师探讨详情。
- 通过减小 TC 补偿的阶数来减少系数的数量。在 E2E 社区中与 TI 应用工程师探讨使用更少系数的过程。